[发明专利]一种泡沫镍表面缺陷提取及分类方法有效
申请号: | 201811285952.7 | 申请日: | 2018-10-31 |
公开(公告)号: | CN109472783B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 朱江;曾艳;李建奇;许海霞;田淑娟;裴廷睿;钱子君;蒋典 | 申请(专利权)人: | 湘潭大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/62;G06N3/04;G06N3/08;G01N21/88 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 411105 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明提供一种泡沫镍表面缺陷提取及分类方法。本发明步骤:首先对泡沫镍图像进行预处理;然后,对预处理后的图像进行缺陷提取,最后利用几何特征训练BP神经网络进行缺陷分类。本发明提出的方法有效提取出泡沫镍边裂、刮伤、划线、空洞、漏镀、缺口、透孔七类典型缺陷,并能实现缺陷高效、精确分类。 | ||
搜索关键词: | 一种 泡沫 表面 缺陷 提取 分类 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于泡沫镍表面缺陷提取及分类方法,该方法包括以下步骤:步骤一:对泡沫镍图像f(x,y)进行预处理:1)采用高斯平滑,将泡沫镍图像f(x,y)与高斯函数
卷积,得到图像G(x,y),![]()
2)利用邻域卷积滤波器强化图像差异部分,得到强化了差异部分的图像H(x,y):H(x,y)=G(x,y)*δ,该邻域卷积滤波器的卷积模板δ如下:
式中,γ=4*p,β=4n(p+2m+n),α=‑β/γ,θ=0或1;步骤二:在预处理图像H(x,y)上提取泡沫镍缺陷:1)采用OTSU法对预处理图像进行二值化,利用中值滤波方法去除图像中的纹理杂点得到滤波后图像g(x,y):g(x,y)=med{H(x‑s,y‑t),(s,t∈W)},W为二维模板滤波模板;2)在滤波后的图像上获取各连通域面积Si(i=1,2,…,n),利用缺陷定位算法提取出泡沫镍缺陷,获得泡沫镍几何特征;步骤三:利用所提取几何特征训练神经网络对泡沫镍缺陷进行分类。
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