[发明专利]缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质有效
申请号: | 201811110575.3 | 申请日: | 2018-09-21 |
公开(公告)号: | CN109300127B | 公开(公告)日: | 2021-02-05 |
发明(设计)人: | 周凯;廖方诚;张孟;吴小飞;曾江东;王珂;王文涛;江银凤 | 申请(专利权)人: | 深圳新视智科技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/62;G06T7/70;G06T5/00 |
代理公司: | 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 | 代理人: | 仉玉新 |
地址: | 518000 广东省深圳市罗湖区莲*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请涉及一种缺陷检测方法,该方法包括:获取待检测的目标主体对应的目标图像,对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像,当根据所述高斯差分图像确定所述目标主体中存在多个缺陷时,获取每个缺陷在所述目标图像中的位置,根据每个缺陷的位置计算两两缺陷之间的重合度,根据所述重合度进行缺陷合并,确定与所述目标主体对应的合并后的目标缺陷信息。此外,还提出了一种缺陷检测装置、计算机设备及存储介质。 | ||
搜索关键词: | 缺陷 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测的目标主体对应的目标图像;对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像;当根据所述高斯差分图像确定所述目标主体中存在多个缺陷时,获取每个缺陷在所述目标图像中的位置;根据每个缺陷的位置计算两两缺陷之间的重合度,根据所述重合度进行缺陷合并,确定与所述目标主体对应的合并后的目标缺陷信息。
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