[发明专利]一种计算机硅片高效清洗工艺在审
申请号: | 201811068873.0 | 申请日: | 2018-09-13 |
公开(公告)号: | CN109273351A | 公开(公告)日: | 2019-01-25 |
发明(设计)人: | 李晓东;姚译敏 | 申请(专利权)人: | 江苏又一城智能科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 南京众联专利代理有限公司 32206 | 代理人: | 顾进 |
地址: | 210000 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种计算机硅片高效清洗工艺,包括如下步骤:分子型杂质清洗、离子和原子型杂质清洗、干燥处理。本发明的有益效果在于:通过擦洗可除去颗粒污染和大多数粘在片子上的薄膜;高压喷射的清洗液在清洗的同时,使得片子不易产生划痕和损伤;超声波清洗可通过气蚀作用洗掉硅片上的污染,并通过高频超声波去除硅片表面小于1微米的颗粒,清洗效果更好;第一酸洗液可将有机物分解而除去;碱洗液中H2O2的氧化作用和NH4OH的络合作用,可使金属离子形成稳定的可溶性络合物而溶于水;第二酸洗液中H2O2的氧化作用和盐酸的溶解,以及氯离子的络合性,使得金属生成溶于水的络离子,从而达到清洗的目的。 | ||
搜索关键词: | 硅片 清洗工艺 氧化作用 杂质清洗 酸洗液 清洗 可溶性络合物 超声波清洗 高频超声波 有机物分解 干燥处理 高压喷射 硅片表面 金属离子 颗粒污染 络合作用 气蚀作用 清洗效果 碱洗液 氯离子 络离子 清洗液 计算机 擦洗 划痕 络合 去除 盐酸 薄膜 离子 溶解 损伤 金属 污染 | ||
【主权项】:
1.一种计算机硅片高效清洗工艺,其特征在于:包括如下步骤:a)分子型杂质清洗:首先对硅片的表面进行擦洗,随后采用高压喷枪,使用清洗液对硅片的表面进行高压冲洗,并控制喷嘴压力10~12Mpa,喷嘴与硅片表面距离16~19cm,之后将硅片放入超声波清洗池内,并控制频率23000~26000Hz,清洗12~16min,最后备用;b)离子和原子型杂质清洗:将步骤a)中分子型杂质清洗过的硅片放入第一酸洗液进行清洗,清洗时间2~5min,随后用超纯水冲洗,并再用碱洗液清洗,清洗时间2~5min,之后再用第二酸洗液进行清洗,清洗时间1~3min,最后用去离子水清洗备用;c)干燥处理:将经过步骤b)处理后的硅片进行IPA干燥。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏又一城智能科技有限公司,未经江苏又一城智能科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811068873.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造