[发明专利]物体检测方法、系统、计算机设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 201810442472.0 申请日: 2018-05-10
公开(公告)号: CN108596905A 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 罗小军;吴丰礼;孙高磊;李相前;梅能华 申请(专利权)人: 广东拓斯达科技股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/62
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 陈金普
地址: 523822 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及一种物体检测方法、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括以下步骤:获取待测物体图像的第一特征点和模板图像的第二特征点,其中,第一特征点所表示的在待测物体上的位置与第二特征点所表示的在模板上的位置相同,根据第一特征点和第二特征点获取透视变换矩阵,根据变换矩阵将待测物体图像转换为待对比图像,并根据待对比图像与模板图像检测待测物体的缺陷。采用本方法能够根据待测物体的待测物体图像中第一特征点和模板的模板图像中第二特征点,获取透视变换矩阵和待测物体的待对比图像,根据待对比图像和模板图像进行直接地对比,对比过程简单和便捷,可以快速和准确地检测待测物体的缺陷,提高模具或产品的检测效率和准确性。
搜索关键词: 待测物体 特征点 对比图像 模板图像 透视变换矩阵 计算机设备 存储介质 物体检测 检测 图像 变换矩阵 对比过程 图像转换 模具 申请
【主权项】:
1.一种物体检测方法,其特征在于,包括以下步骤:获取待测物体图像的第一特征点和模板图像的第二特征点,其中,所述第一特征点所表示的在待测物体上的位置与所述第二特征点所表示的在模板上的位置相同;根据所述第一特征点和所述第二特征点获取透视变换矩阵;根据所述变换矩阵将所述待测物体图像转换为待对比图像,并根据所述待对比图像与所述模板图像检测所述待测物体的缺陷。
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