[发明专利]物体检测方法、系统、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种物体检测方法、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括以下步骤：获取待测物体图像的第一特征点和模板图像的第二特征点，其中，第一特征点所表示的在待测物体上的位置与第二特征点所表示的在模板上的位置相同，根据第一特征点和第二特征点获取透视变换矩阵，根据变换矩阵将待测物体图像转换为待对比图像，并根据待对比图像与模板图像检测待测物体的缺陷。采用本方法能够根据待测物体的待测物体图像中第一特征点和模板的模板图像中第二特征点，获取透视变换矩阵和待测物体的待对比图像，根据待对比图像和模板图像进行直接地对比，对比过程简单和便捷，可以快速和准确地检测待测物体的缺陷，提高模具或产品的检测效率和准确性。

技术领域

本申请涉及物体检测技术领域，特别是涉及一种物体检测方法、物体检测系统、计算机设备和存储介质。

背景技术

在制造行业中，通过模具制造产品的过程，由于不同产品的特殊性和不规则性，产品的合格率很大程度上要依赖无损的模具，且保证合模前模具内无残留物。因此，在制造行业中需要对每次产品生产的模具和生产后的产品进行检测。

但是，由于产品多种多样，只能通过人工检测的方式来确认模具和产品是否合格，大大降低物体检测的效率。

发明内容

基于此，有必要针对上述人工检测模具和产品的效率低的问题，提供一种物体检测方法、系统、计算机设备和存储介质。

一种物体检测方法，包括以下步骤：

获取待测物体图像的第一特征点和模板图像的第二特征点，其中，第一特征点所表示的在待测物体上的位置与第二特征点所表示的在模板上的位置相同；

根据第一特征点和第二特征点获取透视变换矩阵；

根据变换矩阵将待测物体图像转换为待对比图像，并根据待对比图像与模板图像检测待测物体的缺陷。

在一个实施例中，根据第一特征点和第二特征点获取透视变换矩阵的步骤，包括以下步骤：

根据第一特征点和第二特征点建立透视变换等式；

根据透视变换等式求解透视变换矩阵。

在一个实施例中，根据第一特征点和第二特征点建立透视变换等式的步骤，包括以下步骤：

确定为第一特征点和第二特征点的变换关系，其中，i为待测物体上与模板上相同位置的序号，x_i和y_i分别为第i个第一特征点的横坐标和纵坐标，z_i满足z_i＝a₁₃u_i+a₂₃v_i+a₃₃，u_i和v_i分别为第i个第二特征点的横坐标和纵坐标，为透视变换矩阵，a₁₁、a₁₂、a₁₃、a₂₁、a₂₂、a₂₃、a₃₁、a₃₂和a₃₃分别为透视变换矩阵的元素；

根据变换关系获得和其中，和为透视变换等式，i为待测物体上与模板上相同位置的序号，x_i和y_i分别为第i个第一特征点的横坐标和纵坐标，u_i和v_i分别为第i个第二特征点的横坐标和纵坐标，a₁₁、a₁₂、a₁₃、a₂₁、a₂₂、a₂₃、a₃₁、a₃₂和a₃₃分别为透视变换矩阵的元素。