[发明专利]一种宽光谱范围非对称空间外差光谱仪在审

专利信息
申请号: 201810128420.6 申请日: 2018-02-08
公开(公告)号: CN108344508A 公开(公告)日: 2018-07-31
发明(设计)人: 方亮;况银丽;程欣;彭翔;张辉;刘恩海 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种宽光谱范围的非对称空间外差光谱仪,包括:入射狭缝、准直柱透镜、多波段滤波片阵列、分光棱镜、两块变周期闪耀光栅阵列、成像镜头以及二维面阵探测器。其中,多波段滤波阵列与变周期闪耀光栅阵列的子区域一一对应,两块变周期闪耀光栅阵列与分光棱镜的距离不同。入射光首先经狭缝进入光谱仪,由柱透镜对入射光进行准直,准直后的入射光经多波段滤波阵列滤波后形成一维光谱分布,再经分光棱镜分为两束光,两束光中不同波段的光分别由两块变周期闪耀光栅阵列的不同区域进行色散,色散后的光再次经过分光棱镜并形成干涉,最后由成像透镜将干涉条纹成像在二维面阵探测器上。本发明在保证高光谱分辨率的同时具有更大的光谱范围。
搜索关键词: 闪耀光栅阵列 分光棱镜 变周期 多波段 入射光 二维面阵探测器 空间外差光谱仪 滤波阵列 非对称 宽光谱 色散 高光谱分辨率 滤波片阵列 准直柱透镜 光谱仪 成像镜头 成像透镜 干涉条纹 入射狭缝 一维光谱 柱透镜 子区域 波段 光谱 滤波 狭缝 准直 成像 干涉 保证
【主权项】:
1.一种宽光谱范围的非对称空间外差光谱仪,其特征在于,包括:-入射狭缝(1),用于导入信号光;-准直柱透镜(2),用于对入射狭缝(1)导入的信号光准直;-多波段带通滤波阵列(3),用于对准直柱透镜(2)准直后的信号光沿一维方向进行不同波段的滤波;-宽带分光棱镜(4),用于对多波段带通滤波阵列(3)滤波后的信号光进行分光;-分光棱镜透射光路中的变周期闪耀光栅阵列(51),其中不同周期的闪耀光栅对不同波段的宽带分光棱镜(4)的透射信号光进行色散;-分光棱镜反射光路中的变周期闪耀光栅阵列(52),其中不同周期的闪耀光栅对不同波段的宽带分光棱镜(4)的反射信号光进行色散;-成像柱透镜组,用于对分别被分光棱镜透射光路中的变周期闪耀光栅阵列(51)与分光棱镜反射光路中的变周期闪耀光栅阵列(52)色散后的两路信号光再次经过宽带分光棱镜(4)时形成的不同波段的干涉条纹进行缩小或放大成像;-二维阵列型探测器(7),用于对成像柱透镜组缩小或放大成像后的不同波段信号光的干涉条纹进行探测。
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  • 2018-09-03 - 2019-01-11 - G01J3/45
  • 本发明公开了一种基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法。将第一微波扫频信号调制于窄线宽光载波,生成载波抑制的光单边带调制信号;对该光单边带调制信号进行基于受激布里渊散射(SBS)的边带整形;以边带整形后的光单边带调制信号作为光本振信号,使用基于微波扫频源和相干光电探测的光谱测量方法对待测光信号的光谱进行测量。本发明还公开了一种基于SBS边带整形的光谱测量装置。本发明在现有基于扫频光源和相干光电探测的光谱测量方法基础上,利用SBS的窄带增益效果放大扫频边带,同时利用其衰减效果抑制残留边带,提高边带抑制比,实现了大动态范围的光谱测量。
  • 高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置-201820728778.8
  • 陈莎莎;魏儒义;严强强;吴银花 - 中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 2018-05-16 - 2018-12-21 - G01J3/45
  • 本实用新型属于光谱成像领域,涉及一种高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置。包括沿光路依次设置的第一准直系统、第一光栅、第一透镜、像切分器、第二透镜、广角迈克尔逊干涉仪、柱透镜、狭缝、第二准直系统、第二光栅、成像镜及光电探测器;所述狭缝位于柱透镜的焦点处;解决了传统的高精度交叉色散阶梯光栅光谱仪和相干色散光谱仪这两种光谱成像方法中存在的光通量低、光电探测器靶面大小限制光谱展宽、光谱范围越宽条纹对比度越差、高的光谱分辨率会使光电探测器单个像元信噪比减小、交叉色散引起光谱谱线弯曲等问题。
  • 一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统及方法-201810985909.5
  • 叶全意;高英杰;王徐啸 - 金陵科技学院
  • 2018-08-28 - 2018-12-07 - G01J3/45
  • 本发明公开了一种全光纤干涉仪自由光谱范围测量系统及方法,利用矢量网络分析仪测量信号发生器输入的微波信号和光电探测器输出微波信号的S21参数特性,将全光纤Mach‑Zehnder干涉仪的自由光谱范围的转换为微波信号的S21参数的等间隔梳状频谱,通过矢量网络分析仪S21参数观察计算全光纤Mach‑Zehnder干涉仪的自由光谱范围。本发明简化了全光纤Mach‑Zehnder干涉仪的自由光谱范围测量系统的复杂性,减小了系统的成本,而且操作步骤简单。
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