专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]多光谱光场成像系统、三维温度场测量方法及测量系统-CN202310894771.9在审
  • 许传龙;陈满福;李健;张彪 - 东南大学
  • 2023-07-20 - 2023-10-27 - G01J3/28
  • 本发明公开了一种多光谱光场成像系统、三维温度场测量方法及测量系统,多光谱光场成像系统包括:主镜头、微透镜阵列、第一中继镜、二向色镜、第二中继镜、第三中继镜、第一图像传感器、第一滤光片、第二图像传感器及第二滤光片;所述微透镜阵列位于主镜头的像面处;第一中继镜和第二中继镜、第三中继镜分别组成光谱波段一光路上和光谱波段二光路上的1:1中继镜组成像系统;二向色镜与光轴呈45°;第一图像传感器位于第二中继镜的焦平面处,第二图像传感器位于第三中继镜的焦平面处。本发明实现多光谱光场数据的采集,各光谱的光场数据量不变,能实现流场瞬时三维温度场的测量。
  • 光谱成像系统三维温度场测量方法测量
  • [发明专利]用于多光谱成像系统光学通道平行性的校准装置及方法-CN201910342610.2有效
  • 吴晨成;张瑞 - 陕西雷神智能装备有限公司
  • 2019-04-26 - 2023-10-27 - G01J3/28
  • 本发明公开了一种用于多光谱成像系统光学通道平行性的校准装置及方法,装置包括离轴反射镜、多光谱光源和空间光桥,被测产品上间隔设置有多只光学通道;多光谱光源出射的光经过离轴反射镜整形为准直光束,并向被测产品方向出射;所述的空间光桥包括层叠设置的第一斜方棱镜和第二斜方棱镜。本发明将空间光桥在环形导轨上的往复移动和平移,在不改变入射和出射光束方向的前提下,方便地将小口径离轴反射镜出射的准直光束经过平移后入射至大跨度、大间隔的光学通道中,实现了多光谱成像系统光学通道平行性的校准,具有结构紧凑、成本低,操作简单可靠、便于外场等应用特点。
  • 用于光谱成像系统光学通道平行校准装置方法
  • [实用新型]一种光谱测量装置-CN202320951881.X有效
  • 程慧东;曾强龙;钟凡;郑增强 - 武汉加特林光学仪器有限公司
  • 2023-04-25 - 2023-10-27 - G01J3/28
  • 本实用新型公开了一种光谱测量装置,该装置包括:光谱仪模块,探头模块,以及用于连接光谱仪模块和探头模块的主光纤;光谱仪模块包括光谱检测组件、第一光路、光纤连接口、第一光源和控制模块;探头模块安装有镜头,镜头通过主光纤与光纤连接口连接,光谱检测组件用于接收光纤连接口接收到的经第一光路传输来的光信号;控制模块用于控制第一光源介入或离开第一光路。本实用新型利用在待测物上成像产生光斑的方法,根据光路可逆原理,可以直接判断实际测量点。通过旋转光谱测量装置,找到接收光谱能量最强的点,即可实现测量角度的精确定位。
  • 一种光谱测量装置
  • [发明专利]光谱模组-CN202211032318.9在审
  • 余宁;李倩倩;楚婧娣;王宇;黄志雷 - 北京与光科技有限公司
  • 2022-08-26 - 2023-10-24 - G01J3/28
  • 本申请涉及一种光谱模组,所述光谱模组包括线路板、光学组件和光谱芯片,其中,光谱芯片包括:图像传感器、位于所述图像传感器的感光路径上的调制区域和非调制区域。所述光谱芯片可与所述光学组件相配合,通过所述调制区域获取入射光的光谱信息,通过所述非调制区域获取入射光携带的图像信息,使得所述光谱模组能够同时获取光谱信息和图像信息。
  • 光谱模组
  • [发明专利]一种多光谱处理方法和多光谱探测装置-CN202210357214.9在审
  • 胡佳 - 华为技术有限公司
  • 2022-04-06 - 2023-10-24 - G01J3/28
  • 本申请实施例提供一种多光谱处理方法和多光谱探测装置,涉及芯片技术领域,能够在多光谱处理中支持小像素、低噪声的高质量多光谱成像,实现高分辨率信号采集和提升暗光性能。具体方案为:在多个频谱阵列中,每个像素单元包括PD、电压探测电路和电流探测电路,电压探测电路包括第一开关器件,电流探测电路包括第二开关器件;逻辑控制电路,用于控制每个像素单元中的第一开关器件和第二开关器件在不同的工作模式下进行成像或环境光探测;逻辑控制电路,还用于控制行列控制电路对多个频谱阵列中的多个像素单元采用不同的信号合并方式,进行成像增强或环境光探测增强。本申请实施例用于多光谱成像和多光谱环境光探测。
  • 一种光谱处理方法探测装置
  • [发明专利]一种高功率激光传感器及激光功率计-CN202210035097.4有效
  • 王勇;孙珲;焦瑞娜;宫建红;邹文涛;刘昱赫 - 山东大学
  • 2022-01-13 - 2023-10-24 - G01J3/28
  • 本发明公开了一种高功率激光传感器及激光功率计,该激光传感器包含从上至下依次设置的:热电薄膜敏感单元、热电致冷单元和散热单元。热电薄膜敏感单元中,倾斜(AB)n多层膜设置在衬底的上表面,其由两种不同的材料A和材料B交替堆砌而成,材料A和B的熔点均高于900℃,倾斜(AB)n多层膜的电阻小于或等于100欧姆;衬底为高导热且绝缘的衬底;金属电极对称且平行地设置在倾斜(AB)n多层膜上表面的两端;金属导线的一端与金属电极连接,另一端用于与信号采集系统连接。本发明的激光传感器在没有水冷的情况下便可以直接用于千瓦级高功率连续激光的功率密度测量,以及用于焦耳级短脉冲激光能量密度的测量。
  • 一种功率激光传感器
  • [发明专利]一种基于MEMS光栅反射镜的光谱成像系统及方法-CN202111659767.1有效
  • 虞益挺;苏扬;董雪;石颖超 - 西北工业大学宁波研究院
  • 2021-12-31 - 2023-10-20 - G01J3/28
  • 本发明提供了一种基于MEMS光栅反射镜的光谱成像系统及方法,涉及光谱成像技术领域,本系统包括目标、成像子系统、DMD工作面、准直子系统、MEMS光栅反射镜工作面和探测器工作面;所述DMD工作面中每个所述微镜扫描单元处于偏转工作状态时将对应列的所述目标像反射至所述准直子系统中进行准直,得到的平行光入射到所述MEMS光栅反射镜工作面上进行分光;通过改变所述MEMS光栅反射镜工作面的偏转角度,使得经过MEMS光栅反射镜分光且反射得到的色散光谱入射至所述探测器工作面的相同区域。本系统能够解决色散光谱偏移,以及基于DMD的扫描式光谱成像系统中过度依赖大长宽比探测器面型、集成化水平不高的问题。
  • 一种基于mems光栅反射光谱成像系统方法
  • [发明专利]一种用于光谱识别与测量的装置及其方法-CN202211662962.4有效
  • 董翊 - 南京伯克利新材料科技有限公司
  • 2022-12-23 - 2023-10-20 - G01J3/28
  • 本申请提供了一种用于光谱识别与测量的装置及其方法,通过滤光阵列由若干不同透射光谱的滤光区域组成,滤光阵列用于透射待测光线;其中,滤光阵列中包括至少一个区域能完全通过待测光线的原始光强;光强采集模块用于采集滤光阵列上的每个滤光区域的透射光强;数据处理模块用于依据透射光强和原始光强确定出待测光线的光谱编码,并发送待测光线的光谱编码至数据库;信息接受模块用于接收并显示依据待测光线的光谱编码从数据库中确定出与待测光线的光谱编码对应的已知光谱的光谱信息。以滤光阵列为编码器,借助无线网络和大数据,缩小体积,通过面阵CCD大面积接收入射光,提高光信号的强度和利用率,使得光谱测量广泛应用。
  • 一种用于光谱识别测量装置及其方法

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