[发明专利]半导体制造装置及半导体器件的制造方法有效
申请号: | 201810110882.5 | 申请日: | 2018-02-05 |
公开(公告)号: | CN108400096B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 名久井勇辉;冈本直树;齐藤明;横森刚;二宫勇 | 申请(专利权)人: | 捷进科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52;H01L21/683 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;刘伟志 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种半导体制造装置及半导体器件的制造方法,防止在通过顶推单元来顶推裸芯片时,裸芯片发生变形而挠曲至筒夹的吸附面之下从而产生漏气。半导体制造装置具备保持晶片的晶片保持台、和从上述晶片保持台吸附裸芯片的筒夹部。上述筒夹部具备筒夹、和保持上述筒夹的筒夹保持件。上述筒夹具备与上述裸芯片接触的第一部分、保持于上述筒夹保持件的第二部分、将上述第一部分的中央部和上述第二部分的中央部连结的第三部分、以及将上述第一部分、上述第三部分和上述第二部分贯穿的第一吸引孔。上述第一部分能够追随上述裸芯片的挠曲而变形。 | ||
搜索关键词: | 半导体 制造 装置 半导体器件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体制造装置,其特征在于,具备:保持晶片的晶片保持台;和从所述晶片保持台吸附裸芯片的筒夹部,所述筒夹部具备筒夹、和保持所述筒夹的筒夹保持件,所述筒夹具备:与所述裸芯片接触的第一部分;保持于所述筒夹保持件的第二部分;将所述第一部分的中央部和所述第二部分的中央部连结的第三部分;以及将所述第一部分、所述第三部分和所述第二部分贯穿的第一吸引孔,所述第一部分能够追随所述裸芯片的挠曲而变形。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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