[发明专利]半导体制造装置及半导体器件的制造方法有效

专利信息
申请号: 201810110882.5 申请日: 2018-02-05
公开(公告)号: CN108400096B 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 名久井勇辉;冈本直树;齐藤明;横森刚;二宫勇 申请(专利权)人: 捷进科技有限公司
主分类号: H01L21/52 分类号: H01L21/52;H01L21/683
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 陈伟;刘伟志
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种半导体制造装置及半导体器件的制造方法,防止在通过顶推单元来顶推裸芯片时,裸芯片发生变形而挠曲至筒夹的吸附面之下从而产生漏气。半导体制造装置具备保持晶片的晶片保持台、和从上述晶片保持台吸附裸芯片的筒夹部。上述筒夹部具备筒夹、和保持上述筒夹的筒夹保持件。上述筒夹具备与上述裸芯片接触的第一部分、保持于上述筒夹保持件的第二部分、将上述第一部分的中央部和上述第二部分的中央部连结的第三部分、以及将上述第一部分、上述第三部分和上述第二部分贯穿的第一吸引孔。上述第一部分能够追随上述裸芯片的挠曲而变形。
搜索关键词: 半导体 制造 装置 半导体器件 方法
【主权项】:
1.一种半导体制造装置,其特征在于,具备:保持晶片的晶片保持台;和从所述晶片保持台吸附裸芯片的筒夹部,所述筒夹部具备筒夹、和保持所述筒夹的筒夹保持件,所述筒夹具备:与所述裸芯片接触的第一部分;保持于所述筒夹保持件的第二部分;将所述第一部分的中央部和所述第二部分的中央部连结的第三部分;以及将所述第一部分、所述第三部分和所述第二部分贯穿的第一吸引孔,所述第一部分能够追随所述裸芯片的挠曲而变形。
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