[发明专利]产品表面缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 201810063199.0 | 申请日： | 2018-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN108154510A | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 段斌;何岗;魏浪;谢煜;张双诚 | 申请（专利权）人： | 深圳市亿图视觉自动化技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/187;G06T7/62;G06T5/30;G01N21/88 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区布*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种产品表面缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质，其中方法包括：获取产品表面的图像；计算图像的局部墒，获取产品表面的纹理图像；对纹理图像进行腐蚀、膨胀处理，得到凸显出缺陷的灰度图像；计算灰度图像的平均灰度值，根据平均灰度值和预设的平均灰度值偏差计算出二值化阈值；采用二值化阈值对灰度图像进行二值化处理，得到产品表面的二值化图像；对二值化图像进行连通域标记，计算出标记的各连通域的面积；分别将各连通域的面积与预设的缺陷面积阈值相比较，若连通域的面积大于缺陷面积阈值，则将连通域标记为缺陷位置。本发明可以精确的识别出产品表面细微的缺陷，减小漏检风险。 | ||
| 搜索关键词： | 产品表面 灰度图像 平均灰度 连通域 计算机可读存储介质 产品表面缺陷 二值化图像 连通域标记 纹理图像 二值化 预设 图像 二值化处理 膨胀处理 偏差计算 缺陷位置 检测 减小 漏检 腐蚀 | ||
【主权项】：
一种产品表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取产品表面的图像；计算所述图像的局部墒，获取所述产品表面的纹理图像；对所述纹理图像进行腐蚀、膨胀处理，得到凸显出缺陷的灰度图像；计算所述灰度图像的平均灰度值，根据所述平均灰度值和预设的平均灰度值偏差计算出二值化阈值；其中，所述二值化阈值等于所述平均灰度值与所述预设的平均灰度值偏差之差；采用所述二值化阈值对所述灰度图像进行二值化处理，得到所述产品表面的二值化图像；对所述二值化图像进行连通域标记，计算出标记的各连通域的面积；分别将各连通域的面积与预设的缺陷面积阈值相比较，若所述连通域的面积大于所述缺陷面积阈值，则将所述连通域标记为缺陷位置。
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