[发明专利]利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法有效
申请号: | 201810017194.4 | 申请日: | 2018-01-09 |
公开(公告)号: | CN108346164B | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 赵越;杨丰澧;汪雪纯 | 申请(专利权)人: | 云南大学 |
主分类号: | G06T7/80 | 分类号: | G06T7/80 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 650504 云南*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本发明是利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法。利用空间中的一条直线作为靶标,首先,用锥镜面折反射摄像机从不同的位置拍摄2幅含有一条直线的图像,分别从2幅图像中提取靶标图像边缘点,得到2幅图像的对应特征点。在对应特征点的上,根据反射投影模型获得直线在锥镜面上的投影点,从而确定两幅图像之间的本质矩阵。其次,由本质矩阵性质构造一个目标函数。最后,利用粒子优化算法最小化目标函数,从而得到锥镜面折反射摄像机内参数。 | ||
搜索关键词: | 利用 本质 矩阵 性质 标定 锥镜面折 反射 摄像机 方法 | ||
【主权项】:
1.一种利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法,其特征在于由空间中的一条直线作为靶标;所述方法的具体步骤包括:首先,用锥镜面折反射摄像机从不同的位置拍摄2幅含有一条直线的图像,分别从2幅图像中提取靶标图像边缘点,得到2幅图像的对应特征点;在对应特征点的上,根据反射投影模型获得直线在锥镜面上的投影点,从而确定两幅图像之间的本质矩阵;其次,由本质矩阵性质构造一个目标函数f;最后,利用粒子优化算法最小化目标函数f,从而得到锥镜面折反射摄像机内参数;1)估计直线在锥镜面上的投影点空间中的直线Q,在锥镜面折反射摄像机的单位球模型下的投影分为两步;第一步,直线Q投影是以O为投影中心,这里投影中心O的轨迹不是定点,而是一个圆,将直线Q投影到锥镜面上的四次曲线Sn,其中n=1,2表示拍摄的两幅图像;第二步,以摄像机的光心Oc为投影中心,将锥镜面上的四次曲线Sn投影为锥镜面折反射图像平面上的四次曲线Cn;锥镜面折反射图像平面与直线OcOm垂直,这里Om是锥镜面顶点;令以Oc为光心的摄像机的内参数矩阵为
其中rc是纵横比,fc是有效焦距,s是倾斜因子,[u0 v0 1]T是摄像机主点p的齐次坐标矩阵形式,其中rc,fc,u0,v0,s为折反射摄像机的5个内参数;这里Pn表示2幅图像的第n组对应特征点;取Pn上的对应特征点X',X",通过逆投影,知在反射光线上的任意点Xu1,Xu1',这里:Xu1=Kc‑1X'=[xu1 yu1 zu1]T,Xu1'=Kc‑1X"=[xu1' yu1' zu1']T;锥镜面点Xm1,Xm1'也在反射光线上,则锥镜面点Xm1=[λ1xu1 λ1yu1 λ1zu1]T,Xm1'=[λ2xu1' λ2yu1' λ2zu1']T;因为锥镜面点Xm1,Xm1'也在锥镜面上,则λ1,λ2由关系式x2+y2‑(z‑γ)2tan2θ=0确定,即确定锥镜面点Xm1,Xm1',其中θ是锥镜面的夹角的一半,γ是摄像机光心Oc到锥镜面顶点Om的距离,x,y,z为空间点的坐标;2)构造一个目标函数f在两幅图像上任取一组对应点X',X",Xm1,Xm1'是其在锥镜面上的点,因为锥镜面点Xm1,Xm1'也满足极几何约束;则由关系式Xm1TEXm1'=0以确定本质矩阵E;因为任意一个3×3的矩阵是本质矩阵E的充要条件是它的两个奇异值中两个相等且第三个是0;则以构造一个目标函数f=|1‑o1/o2|,o1,o2是本质矩阵E的两个非零的奇异值;2)求解锥镜面折反射摄像机内参数因为目标函数f中的5个变量分别是摄像机内参数fu,fv,u0,v0,s,通过粒子群优化算法来最小化目标函数f使其趋于0则以求得各个摄像机内参数。
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