[发明专利]使用双气室喷头的亚稳态激活的自由基选择性剥离和蚀刻的系统和方法在审
申请号: | 201780079015.3 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN110114863A | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 杨登亮;方浩权;大卫·张;吉那那玛尼·安布罗斯;恩苏克·科;罗伟义;张丹 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/3065 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠;张静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于选择性蚀刻衬底的衬底处理系统包括第一室和第二室。第一气体输送系统向所述第一室供应惰性气体物质。等离子体产生系统产生在所述第一室中的包括离子和亚稳态物质的等离子体。气体分配装置从所述等离子体中去除所述离子,阻挡由所述等离子体产生的紫外(UV)光,并将所述亚稳态物质输送到所述第二室。衬底支撑件设置在所述气体分配装置下方以支撑所述衬底。第二气体输送系统将反应性气体物质输送到所述气体分配装置或位于所述气体分配装置下方的容积空间中的一者。所述亚稳态物质将能量传递给所述反应性气体物质,以比所述衬底的至少一种其他暴露材料选择性地更多地蚀刻所述衬底的一种暴露材料。 | ||
搜索关键词: | 气体分配装置 亚稳态 衬底 第一室 等离子体 蚀刻 气体输送系统 反应性气体 物质输送 第二室 离子 等离子体产生系统 衬底处理系统 等离子体产生 供应惰性气体 喷头 衬底支撑件 选择性蚀刻 材料选择 能量传递 容积空间 双气室 自由基 暴露 去除 剥离 激活 阻挡 支撑 | ||
【主权项】:
1.一种用于选择性蚀刻衬底的衬底处理系统,其包括:第一室;第一气体输送系统,其用于向所述第一室供应惰性气体物质;等离子体产生系统,其用于产生在所述第一室中的包括离子和亚稳态物质的等离子体;第二室;气体分配装置,其设置在所述第一室和所述第二室之间,以从所述等离子体中去除所述离子,阻挡由所述等离子体产生的紫外(UV)光,并将所述亚稳态物质输送到所述第二室;衬底支撑件,其设置在所述气体分配装置下方以支撑所述衬底;以及第二气体输送系统,其用于将反应性气体物质输送到以下之一:所述气体分配装置;或位于所述气体分配装置下方的容积空间,其中所述亚稳态物质将能量传递给所述反应性气体物质,以比所述衬底的至少一种其他暴露材料选择性地更多地蚀刻所述衬底的一种暴露材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造