[发明专利]用于改良的半导体蚀刻及部件保护的系统与方法有效

专利信息
申请号: 201780030527.0 申请日: 2017-05-18
公开(公告)号: CN109155251B 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: 陈天发;L·K·罗;D·卢博米尔斯基;S·郑;M·Y·崔;S·朴 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L21/3065 分类号: H01L21/3065;H01L21/683;H05H1/46;H01L21/687
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 杨学春;侯颖媖
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 半导体系统及方法可包括具有气箱的半导体处理腔室,此气箱提供至所述半导体处理腔室的入口。所述腔室可包括第一环形支撑件,在第一环形支撑件的第一表面处接触气箱,其中第一环形支撑件和气箱各自界定第一通道的一部分,第一通道位于气箱与第一环形支撑件的界面处;以及第一气体分配板,安装在第一通道内。腔室还可包括第二环形支撑件,在第一环形支撑件的第二表面处接触第一环形支撑件,第一环形支撑件的第二表面在第一环形支撑件的第一表面的对面,其中第二环形支撑件至少部分地界定第二通道,第二通道位于半导体处理腔室的内部区域周围;以及第二气体分配板,安装在第二通道内,其中第一气体分配板和第二气体分配板包含石英。
搜索关键词: 用于 改良 半导体 蚀刻 部件 保护 系统 方法
【主权项】:
1.一种半导体处理系统,包含:远程等离子体源;输送管,与所述远程等离子体源耦接;以及半导体处理腔室,其中所述半导体处理腔室包含:气箱,耦接在所述输送管的远端区域周围,第一环形支撑件,在所述第一环形支撑件的第一表面处接触所述气箱,其中所述第一环形支撑件及所述气箱一起界定第一通道,所述第一通道在所述半导体处理腔室的内部区域周围,及气体分配板,安装在所述第一通道内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201780030527.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top