[发明专利]用于改良的半导体蚀刻及部件保护的系统与方法有效
申请号: | 201780030527.0 | 申请日: | 2017-05-18 |
公开(公告)号: | CN109155251B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 陈天发;L·K·罗;D·卢博米尔斯基;S·郑;M·Y·崔;S·朴 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H01L21/683;H05H1/46;H01L21/687 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 杨学春;侯颖媖 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 半导体系统及方法可包括具有气箱的半导体处理腔室,此气箱提供至所述半导体处理腔室的入口。所述腔室可包括第一环形支撑件,在第一环形支撑件的第一表面处接触气箱,其中第一环形支撑件和气箱各自界定第一通道的一部分,第一通道位于气箱与第一环形支撑件的界面处;以及第一气体分配板,安装在第一通道内。腔室还可包括第二环形支撑件,在第一环形支撑件的第二表面处接触第一环形支撑件,第一环形支撑件的第二表面在第一环形支撑件的第一表面的对面,其中第二环形支撑件至少部分地界定第二通道,第二通道位于半导体处理腔室的内部区域周围;以及第二气体分配板,安装在第二通道内,其中第一气体分配板和第二气体分配板包含石英。 | ||
搜索关键词: | 用于 改良 半导体 蚀刻 部件 保护 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体处理系统,包含:远程等离子体源;输送管,与所述远程等离子体源耦接;以及半导体处理腔室,其中所述半导体处理腔室包含:气箱,耦接在所述输送管的远端区域周围,第一环形支撑件,在所述第一环形支撑件的第一表面处接触所述气箱,其中所述第一环形支撑件及所述气箱一起界定第一通道,所述第一通道在所述半导体处理腔室的内部区域周围,及气体分配板,安装在所述第一通道内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造