[实用新型]一种非接触测试半绝缘半导体电阻率的装置有效
申请号: | 201720493350.5 | 申请日: | 2017-05-05 |
公开(公告)号: | CN206773072U | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 王昕;田蕾;李俊生 | 申请(专利权)人: | 广州市昆德科技有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司44245 | 代理人: | 刘巧霞,裘晖 |
地址: | 510650 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种非接触测试半绝缘半导体电阻率的装置,包括数字示波器、脉冲发生器、容性探头和样品台,容性探头设置在样品台的上方,所述样品台上堆叠有金属电极层和绝缘体层,待测样品放置在金属电极层上,金属电极层与脉冲发生器相连,脉冲发生器频率、幅度可调;所述容性探头包括相连的电容活动极和电荷放大器,电容活动极一端为探测面,设置在待测样品的正上方,电荷放大器与数字示波器相连;数字示波器用于显示测量信号波形对应的充电时间和电压幅值。本实用新型通过在充放电过程中的测量,可以通过非接触方式测量,通过数字示波器读取相应的信号参数,进而得到半绝缘半导体的电阻率值,具有测量准确,结构简单,成本低廉的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 接触 测试 绝缘 半导体 电阻率 装置 | ||
【主权项】:
一种非接触测试半绝缘半导体电阻率的装置,其特征在于,包括数字示波器、脉冲发生器、容性探头和样品台,容性探头设置在样品台的上方,所述样品台上堆叠有金属电极和绝缘体,待测样品放置在金属电极上,金属电极与脉冲发生器相连,脉冲发生器频率、幅度可调;所述容性探头包括相连的电容活动极和电荷放大器,电容活动极一端为探测面,设置在待测样品的正上方,电荷放大器与数字示波器相连;数字示波器用于显示测量信号波形对应的充电时间和电压幅值。
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