[发明专利]基板搬送装置、检测位置校正方法及基板处理装置有效
申请号: | 201711473933.2 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108364898B | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 桑原丈二 | 申请(专利权)人: | 株式会社斯库林集团 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/66;H01L21/677 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 向勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的目的在于提供能提高基板的搬送精度的基板搬送装置、检测位置校正方法及基板处理装置。检测坐标计算部在进行检测位置校正动作时和进行基板搬送动作时,计算在机械手的基准位置上放置的基准基板或基板的外周部的检测坐标。偏移量计算部在进行检测位置校正动作时,基于检测坐标和设计坐标计算多个检测器的偏移量。检测坐标修正部在进行基板搬送动作时,基于多个检测器的偏移量修正检测坐标;坐标信息修正部基于修正后的检测坐标修正坐标信息。移动控制部基于修正后的坐标信息来控制上下方向驱动电动机、水平方向驱动电动机及旋转方向驱动电动机,并控制上机械手进退用驱动电动机或下机械手进退用驱动电动机,以将基板从接收位置搬送到放置位置。 | ||
搜索关键词: | 基板搬送 装置 检测 位置 校正 方法 处理 | ||
【主权项】:
1.一种搬送基板的基板搬送装置,具有:可动部,第一驱动部,使所述可动部移动,保持部,保持基板,第二驱动部,使所述保持部相对于所述可动部在第一方向上移动;多个检测器,分别检测由所述保持部移动的基板的外周部的多个部分,以及搬送控制部,用于控制所述第一和第二驱动部;所述搬送控制部包括:偏离量计算部,在进行检测位置校正动作时,由所述第二驱动部使所述保持部相对于所述可动部移动,并且基于所述多个检测器的输出信号,计算所述多个检测器的设计位置与所述多个检测器的实际位置之间的偏离量,位置检测部,在进行基板搬送动作时,基于所述多个检测器的输出信号和由所述偏离量计算部计算出的偏离量,检测所述保持部上的基板的位置,以及移动控制部,基于由所述位置检测部检测的位置,控制所述第一和第二驱动部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社斯库林集团,未经株式会社斯库林集团许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711473933.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造