[发明专利]利用结构光获取检测对象的深度信息的系统和方法有效
| 申请号： | 201711443547.9 | 申请日： | 2017-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109978932B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 陈飞帆;潘民杰;姚立锋;戎琦;曾俊杰;戚杨迪 | 申请（专利权）人： | 宁波舜宇光电信息有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/521 | 分类号： | G06T7/521;G03B21/20 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;王艳春 |
| 地址： | 315400 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种利用结构光获取检测对象的深度信息的系统。该系统包括：二维成像装置，用于采集检测对象的二维图像信息；控制器，用于识别二维成像装置所采集的二维图像信息中的特征区域并确定所述特征区域的位置，并且根据所识别的特征区域和所确定的特征区域的位置确定结构光的特征；以及投影装置，将具有所述特征的结构光投影至检测对象，以获取检测对象的深度信息。本发明还提出了一种利用结构光获取检测对象的深度信息的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 结构 获取 检测 对象 深度 信息 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.利用结构光获取检测对象的深度信息的系统，包括：二维成像装置，用于采集所述检测对象的二维图像信息；控制器，用于识别所述二维成像装置所采集的所述二维图像信息中的特征区域并确定所述特征区域在所述二维图像信息中的位置，并且根据所识别的特征区域和所确定的所述特征区域在所述二维图像信息中的位置，确定投影的所述结构光的特征；以及投影装置，用于将具有所述特征的结构光投影至所述检测对象，以获取所述检测对象的深度信息。
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