[发明专利]利用结构光获取检测对象的深度信息的系统和方法

权利要求书

1.利用结构光获取检测对象的深度信息的系统，包括：

二维成像装置，用于采集所述检测对象的二维图像信息；

控制器，用于识别所述二维成像装置所采集的所述二维图像信息中的特征区域并确定所述特征区域在所述二维图像信息中的位置，并且根据所识别的特征区域和所确定的所述特征区域在所述二维图像信息中的位置，确定投影的所述结构光的特征；以及

投影装置，用于将具有所述特征的结构光投影至所述检测对象，以获取所述检测对象的深度信息，

其中，所述投影装置根据所述控制器所确定的所述结构光的特征发射具有不同强度、角度、图案、波段和/或占空比的结构光。

2.如权利要求1所述的系统，其中，所述二维成像装置以预定时间间隔周期性地采集所述检测对象的二维图像信息，并且所述控制器根据所识别的特征区域和所确定的所述特征区域在所述二维图像信息中的位置周期性地确定投影的所述结构光的特征。

3.如权利要求1所述的系统，其中，所述结构光的预定图案包括点结构光图案、线结构光图案和面结构光图案。

4.如权利要求1所述的系统，其中，所述检测对象为虹膜，所述投影装置向所述虹膜投影强度和占空比增大的结构光。

5.如权利要求1所述的系统，其中，所述检测对象为眼睛，所述投影装置发射强度和占空比减小的结构光。

6.如权利要求3所述的系统，其中，所述检测对象为人脸，所述投影装置发射具有线结构光图案的结构光。

7.如权利要求1所述的系统，其中，所述投影装置包括：

衬底；

光学发射器阵列，设置在所述衬底上以发射光线；以及

光学器件，安装在所述衬底之上，并将由所述光学发射器阵列发射的光线投射至所述检测对象。

8.如权利要求7所述的系统，其中，所述衬底为半导体衬底。

9.如权利要求1所述的系统，其中，所述二维成像装置包括：

滤光聚光元件，用于对光线进行过滤和聚焦；以及

成像组件，用于对通过所述滤光聚光元件的光线进行成像，以获取图像信息。

10.如权利要求9所述的系统，其中，所述成像组件包括RGB模组和/或IR模组。

11.一种利用结构光获取检测对象的深度信息的方法，包括：

采集检测对象的二维图像信息；

识别所述二维图像信息中的特征区域，并确定所述特征区域在所述二维图像信息中的位置；

根据所识别的特征区域和所确定的所述特征区域在所述二维图像信息中的位置，确定结构光的特征；

将具有所述特征的结构光投影至所述检测对象；以及

获取所述检测对象的深度信息，

其中，将所述结构光投影至所述检测对象包括根据所确定的所述结构光的特征发射具有不同强度、角度、图案、波段和/或占空比的结构光。

12.如权利要求11所述的方法，其中，所述二维图像信息以预定时间间隔周期性地采集，并且根据所识别的特征区域和所确定的所述特征区域在所述二维图像信息中的位置，周期性地确定结构光的特征。

13.如权利要求11所述的方法，其中，采集所述检测对象的二维图像信息包括利用RGB模组和/或IR模组对所述检测对象进行成像，以获取所述检测对象的二维图像信息。

14.如权利要求11所述的方法，其中，所述结构光的不同图案包括点结构光图案、线结构光图案和面结构光图案。

15.如权利要求11所述的方法，其中，所述检测对象为虹膜，将具有所述特征的结构光投影至所述检测对象包括将强度和占空比增大的结构光投射至所述检测对象。