[发明专利]鳍式场效应晶体管及其制作方法有效
申请号: | 201711347871.0 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN108010968B | 公开(公告)日: | 2020-08-28 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 南京溧水高新创业投资管理有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 | 代理人: | 李明香 |
地址: | 210000 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种鳍式场效应晶体管的制作方法,包括:在硅衬底表面形成源区和漏区;在所述硅衬底表面形成氧化层,并对所述氧化层进行平坦化处理,使得所述源区和漏区暴露出来;通过对将所述源区和漏区之间的沟道区中的氧化层进行刻蚀处理,去除所述沟道区中的氧化层;在所述氧化层表面形成外延层,并对所述外延层进行回刻处理,其中所述外延层填充到所述沟道区;对所述沟道区的外延层两侧的氧化层进行刻蚀处理;在所述沟道区的外延层表面形成栅介质层,所述栅介质层覆盖所述源区和漏区所述沟道区;在所述栅介质层表面形成栅极。本发明还同时提供一种采用上述方法制作而成的鳍式场效应晶体管。 | ||
搜索关键词: | 场效应 晶体管 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种鳍式场效应晶体管的制作方法,其特征在于,包括:在硅衬底表面形成源区和漏区;在所述硅衬底表面形成氧化层,并对所述氧化层进行平坦化处理,使得所述源区和漏区暴露出来;通过对将所述源区和漏区之间的沟道区中的氧化层进行刻蚀处理,去除所述沟道区中的氧化层;在所述氧化层表面形成外延层,并对所述外延层进行回刻处理,其中所述外延层填充到所述沟道区;对所述沟道区的外延层两侧的氧化层进行刻蚀处理;在所述沟道区的外延层表面形成栅介质层,所述栅介质层覆盖所述源区和漏区所述沟道区;在所述栅介质层表面形成栅极。
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