[发明专利]半导体元件在审

专利信息
申请号: 201711294348.6 申请日: 2017-12-08
公开(公告)号: CN109904159A 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 何万迅;邢溯 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L29/423
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体元件,具有静态随机存取存储单元,静态随机存取存储单元包括第一、二P型金属氧化物半导体晶体管,形成于基底中N‑阱线区上方。第一、二N型金属氧化物半导体晶体管形成于基底中第一P‑阱线区上方,在N‑阱线区的第一边。第三、四N型金属氧化物半导体晶体管,形成于基底中第二P‑阱线区上方,在N‑阱线区的第二边。第一栅极线连接第一P型金属氧化物半导体晶体管与第一N型金属氧化物半导体晶体管的栅极。第二栅极线连接第二N型金属氧化物半导体晶体管的栅极。第三栅极线连接第二P型金属氧化物半导体晶体管与第三N型金属氧化物半导体晶体管的栅极。第四栅极线连接第四N型金属氧化物半导体晶体管的栅极。第一、三N栅极线是L形状。
搜索关键词: 栅极线 阱线 基底 随机存取存储单元 半导体元件
【主权项】:
1.一种半导体元件,具有形成在基底上由六个晶体管构成的静态随机存取存储单元,其特征在于,该静态随机存取存储单元包括:第一与第二P型金属氧化物半导体晶体管,形成于在基底中的N‑阱线区的上方;第一与第二N型金属氧化物半导体晶体管形成于在基底中的第一P‑阱线区的上方,在该N‑阱线区的第一边;第三与第四N型金属氧化物半导体晶体管,形成于在基底中的第二P‑阱线区的上方,在该N‑阱线区的第二边;第一栅极线连接该第一P型金属氧化物半导体晶体管与该第一N型金属氧化物半导体晶体管的栅极;第二栅极线连接该第二N型金属氧化物半导体晶体管的栅极;第三栅极线连接该第二P型金属氧化物半导体晶体管与该第三N型金属氧化物半导体晶体管的栅极;以及第四栅极线连接该第四N型金属氧化物半导体晶体管的栅极,其中该第一栅极线与该第三栅极线是L形状。
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