[发明专利]一种数控机床轨迹控制方法

摘要

本发明公开了一种数控机床轨迹控制方法，旨在解决现有技术无法针对机床的运动轨迹的精确控制而导致对于零件加工的加工程度难以控制的问题；本申请中加工计划中单次运动的位移被分散到M次运动中实现，从而使相近的数次运动之间的位移变化量减小，所加工的自由曲面的拟合度更好，加工表面的光洁度更高，因此该方法可以在无需加长加工文件的情况下，提高自由曲面加工的光洁度，避免数控机床数据处理量的增加，降低相同应用需求情况下的数控机床成本。本发明的数控机床加工轨迹控制方法步骤简单，应用简便，且应用范围较为广泛；本申请适用于数控加工领域。

主权项

一种数控机床轨迹控制方法,其特征在于，包括以下步骤：步骤1：根据加工计划确定进行平滑处理的位置数M，并初始化M个位移量存储单元，将各位移量存储单元编号为0至M‑1，并指定当次位移量存储单元的编号；步骤2：根据加工计划计算当次运动计划位移量，将所述的当次运动计划位移量存入当次位移量存储单元，将M个位移量存储单元的平均值作为当次运动实际位移量；步骤3：重新设定当次位移量存储单元的编号，判断加工计划是否执行完毕，若是，则进入步骤4；步骤4：判断是否存在残留位移，若存在残留位移，则将当次运动的位移量设定为0并返回步骤2；若不存在残留位移，则完成。