[发明专利]一种数控机床轨迹控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及数控加工领域，具体涉及一种数控机床轨迹控制方法。

背景技术

数控加工(Mumerical coMtrol machiMiMg)，是指在数控机床上进行零件加工的一种工艺方法，数控机床加工与传统机床加工的工艺规程从总体上说是一致的，但也发生了明显的变化。用数字信息控制零件和刀具位移的机械加工方法。它是解决零件品种多变、批量小、形状复杂、精度高等问题和实现高效化和自动化加工的有效途径。现在的数控加工逐渐的智能化，但是对于数控机床轨迹的控制依旧难度很大，如何控制好机床的运动轨迹对于提升零件加工有重要的意义，但是现有技术对于机床的轨迹控制并不重视，很难实现机床的运动轨迹的精确控制。

发明内容

本发明的目的在于：针对现有技术无法针对机床的运动轨迹的精确控制而导致对于零件加工的加工程度难以控制的问题，本申请提供了一种数控机床轨迹控制方法。

本发明采用的技术方案如下：

一种数控机床轨迹控制方法,包括以下步骤：

步骤1：根据加工计划确定进行平滑处理的位置数M，并初始化M个位移量存储单元，将各位移量存储单元编号为0至M-1，并指定当次位移量存储单元的编号；

具体地，所述的加工计划为加工路径文件，所述的需要进行平滑处理的位置数M为加工路径文件的精度所对应的脉冲个数的一半；

步骤2：根据加工计划计算当次运动计划位移量，将所述的当次运动计划位移量存入当次位移量存储单元，将M个位移量存储单元的平均值作为当次运动实际位移量；

步骤3：重新设定当次位移量存储单元的编号，判断加工计划是否执行完毕，若是，则进入步骤4

具体地，所述步骤3中重新设定当次位移量存储单元的编号，设定当次位移量存储单元编号加1，若加1后为M，则将当次位移量存储单元编号设定为0；

步骤4：判断是否存在残留位移，若存在残留位移，则将当次运动的位移量设定为0并返回步骤2；若不存在残留位移，则完成；

具体地，所述步骤4中判断是否存在残留位移，具体是指：将各位移量存储单元中的数据与初始值比较，判断是否存在残留位移，若各位移量存储单元均为0，则不存在残留位移，反之，则存在残留位移；

具体地，还包括步骤5；所述步骤5具体为：当步骤4中不存在残留时，记录从步骤1至步骤4的时间t，根据V＝M/t来评估机床的工作效率，其中V表示单位时间内机床移动的位置数。

采用了本发明的数控机床加工轨迹控制方法，其通过确定需要进行平滑处理的位置数M；初始化M个位移量存储单元，并将加工计划中当次运动计划位移量存入当次位移量存储单元；将M个位移量存储单元的平均值作为当次运动实际位移量；循环该过程以完成加工。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：

1.本申请中加工计划中单次运动的位移被分散到M次运动中实现，从而使相近的数次运动之间的位移变化量减小，所加工的自由曲面的拟合度更好，加工表面的光洁度更高，因此该方法可以在无需加长加工文件的情况下，提高自由曲面加工的光洁度，避免数控机床数据处理量的增加，降低相同应用需求情况下的数控机床成本。本发明的数控机床加工轨迹控制方法步骤简单，应用简便，且应用范围较为广泛；

2.本申请的轨迹控制方法还可以进行机床工作效率评价，采用简单的方法便可以评价出机床的工作效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。附图并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。

图1是本申请的流程示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

一种数控机床轨迹控制方法,包括以下步骤：

步骤1：根据加工计划确定进行平滑处理的位置数M，并初始化M个位移量存储单元，将各位移量存储单元编号为0至M-1，并指定当次位移量存储单元的编号；