[发明专利]一种数控机床轨迹控制方法

权利要求书

1.一种数控机床轨迹控制方法,其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：根据加工计划确定进行平滑处理的位置数M，并初始化M个位移量存储单元，将各位移量存储单元编号为0至M-1，并指定当次位移量存储单元的编号；

步骤2：根据加工计划计算当次运动计划位移量，将所述的当次运动计划位移量存入当次位移量存储单元，将M个位移量存储单元的平均值作为当次运动实际位移量；

步骤3：重新设定当次位移量存储单元的编号，判断加工计划是否执行完毕，若是，则进入步骤4；

步骤4：判断是否存在残留位移，若存在残留位移，则将当次运动的位移量设定为0并返回步骤2；若不存在残留位移，则完成。

2.如权利要求1所述的一种数控机床轨迹控制方法,其特征在于，还包括步骤5；所述步骤5具体为：当步骤4中不存在残留时，记录从步骤1至步骤4的时间t，根据V＝M/t来评估机床的工作效率，其中V表示单位时间内机床移动的位置数。

3.如权利要求1所述的一种数控机床轨迹控制方法,其特征在于，所述的加工计划为加工路径文件，所述的需要进行平滑处理的位置数M为加工路径文件的精度所对应的脉冲个数的一半。

4.如权利要求1所述的一种数控机床轨迹控制方法,其特征在于，所述步骤3中重新设定当次位移量存储单元的编号，设定当次位移量存储单元编号加1，若加1后为M，则将当次位移量存储单元编号设定为0。

5.如权利要求1所述的一种数控机床轨迹控制方法,其特征在于，所述步骤4中判断是否存在残留位移，具体是指：将各位移量存储单元中的数据与初始值比较，判断是否存在残留位移，若各位移量存储单元均为0，则不存在残留位移，反之，则存在残留位移。