[发明专利]一种测量储氢容器加工件具体位置氢缺陷严重程度的方法在审

专利信息
申请号: 201710962828.9 申请日: 2017-10-17
公开(公告)号: CN107817255A 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: 赵和明;张鲲;王国文;刘小林;石章海;董富军;袁静;黄珍;卞斌;廖桑桑;陈登国;李声延;王婷华;孙乐飞;陈晓浪;熊文名;阳隽觎;刘志芳;杨帆;王华;胡书春 申请(专利权)人: 新余钢铁股份有限公司;西南交通大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 338001 *** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明公开了一种测量储氢容器加工件具体位置氢缺陷严重程度的方法,将储氢容器加工件加热至200℃~280℃后,冷却至常温,置入真空室内,抽真空至3~50Pa,充入20~50KPa的氢同位素氚,加热含氚气体至100℃~280℃,保温10~20 h;取出加工件,冷却后置于暗室内,贴上感光底片,接收加工件内部的氢同位素氚原子衰变产生的β射线及β射线诱导产生的X射线,取出感光底片,冲洗,在感光底片上显示加工件具体位置氢缺陷严重程度及分布状况;将显示加工件氢缺陷色度的感光底片与氢缺陷严重程度标准比色板比对,确定具体位置氢缺陷严重程度级别。本发明能够确定具体位置氢致损伤程度,因而可以采取应对措施。
搜索关键词: 一种 测量 容器 工件 具体位置 缺陷 严重 程度 方法
【主权项】:
一种测量储氢容器加工件具体位置氢缺陷严重程度的方法,具体包括以下步骤:1)将储氢容器加工件在加热炉内加热至200℃~280℃后,保温50~150min,再冷却至常温,置入真空室内,抽真空至3~50Pa,充入20~50KPa的氢同位素氚,1~10min后,加热含氚气体至100℃~280℃,保温10~20 h;2)取出储氢容器加工件,冷却至常温,再置于暗室内,贴上感光底片,接收储氢容器加工件内部的氢同位素氚原子衰变产生的β射线和由β射线诱导产生的X射线,1小时后,取出感光底片,冲洗,通过彩色扫描仪在电脑上显示感光底片上储氢容器加工件具体位置氢缺陷严重程度及分布状况;3)将显示储氢容器加工件氢缺陷色度的感光底片与氢缺陷严重程度标准比色板比对,确定具体位置氢缺陷严重程度级别。
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