[发明专利]一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置有效
| 申请号： | 201710945335.4 | 申请日： | 2017-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN109656033B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 邢志伟;姚毅;路建伟;周钟海;马增婷;时广军 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01N21/94;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置，方法包括：获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像；缩放待检测正拍图像和待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；确定仿射变换矩阵；根据仿射变换矩阵对缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；分别提取缩放正拍图像和配准图像的准缺陷坐标，保存为第一集合和第二集合；逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；比较视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。本申请实施例中，通过获取待检测正拍图像和待检测斜拍图像，得到各准缺陷的视差，通过与距离阈值对比，得到是否为真实缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 区分 液晶显示屏 灰尘 缺陷 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；确定仿射变换矩阵；根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。
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