[发明专利]一种二极管的制备工艺在审

专利信息
申请号: 201710807338.1 申请日: 2017-09-08
公开(公告)号: CN107689327A 公开(公告)日: 2018-02-13
发明(设计)人: 曹建民 申请(专利权)人: 如皋市下原科技创业服务有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L21/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226500 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种二极管的制备工艺,该制备工艺包括硅片P+、N+面表面涂覆光阻胶、去胶冲洗、再次涂覆光阻胶、烘干、冷却、曝光显影、自动检测、划片、酸腐蚀、去除光阻胶、再次镀镍、碱洗、上胶、胶固化、模压、后固化、电镀等工序。本发明的优点在于本发明二极管的制备工艺,通过在硅片的图形化处理前对采用的硅片进行清洗,并在过程中严格的控制清洗温度和PH值,去除硅片在加工过程中带入的杂质污染物,并确保经过清洗后的硅片不会影响后续的上胶处理,降低掉胶率,以便在检测过程中尽量发现问题,避免漏检流入下道工序后影响合格率,采用本发明的方法可将产品良品率提高5%左右,大大降低了资源的浪费和生产成本。
搜索关键词: 一种 二极管 制备 工艺
【主权项】:
一种二极管的制备工艺,其特征在于:所述制备工艺包括如下步骤:(1)在硅片P+、N+面完成镀镍后,再在硅片P+、N+面表面涂覆光阻胶;(2)将步骤(1)中涂覆光阻胶的硅片进行去胶处理,然后用水作为冲洗液进行冲洗,在冲洗时,控制冲洗液的PH值在6~8之间,冲洗液温度在16~20℃,冲洗持续8~12min;冲洗完成后再通过离心甩干6~8min;(3)将清洗好的硅片在100~120℃的条件下烘烤50~70s,再降温至18~22℃进行冷却,冷却24~36s;(4)冷却后的硅片的N+面进行曝光,曝光部分的硅片用显影液腐蚀,处理得图形化硅片,并去除图形间隙处光阻胶;(5)通过自动检测仪对步骤(4)中图形化硅片进行自动检测,有掉胶的被分拣出,没有掉胶缺陷的进入下一工序;(6)利用硅片N+面的图形间隙作为划片下刀参考线进行划片,形成单个芯片;(7)对芯片台面进行酸腐蚀,去除划片过程中对芯片造成的损伤,然后去除表面的光阻胶,再次镀镍;(8)将芯片的P+、N+面分别通过焊料焊接引线,然后经碱洗、梳条后进行上胶、胶固化、模压、后固化、电镀,最后经测试合格后印字、包装。
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