[发明专利]一种二极管的制备工艺在审
申请号: | 201710807338.1 | 申请日: | 2017-09-08 |
公开(公告)号: | CN107689327A | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 曹建民 | 申请(专利权)人: | 如皋市下原科技创业服务有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/02 |
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地址: | 226500 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种二极管的制备工艺,该制备工艺包括硅片P+、N+面表面涂覆光阻胶、去胶冲洗、再次涂覆光阻胶、烘干、冷却、曝光显影、自动检测、划片、酸腐蚀、去除光阻胶、再次镀镍、碱洗、上胶、胶固化、模压、后固化、电镀等工序。本发明的优点在于本发明二极管的制备工艺,通过在硅片的图形化处理前对采用的硅片进行清洗,并在过程中严格的控制清洗温度和PH值,去除硅片在加工过程中带入的杂质污染物,并确保经过清洗后的硅片不会影响后续的上胶处理,降低掉胶率,以便在检测过程中尽量发现问题,避免漏检流入下道工序后影响合格率,采用本发明的方法可将产品良品率提高5%左右,大大降低了资源的浪费和生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 二极管 制备 工艺 | ||
【主权项】:
一种二极管的制备工艺,其特征在于:所述制备工艺包括如下步骤:(1)在硅片P+、N+面完成镀镍后,再在硅片P+、N+面表面涂覆光阻胶;(2)将步骤(1)中涂覆光阻胶的硅片进行去胶处理,然后用水作为冲洗液进行冲洗,在冲洗时,控制冲洗液的PH值在6~8之间,冲洗液温度在16~20℃,冲洗持续8~12min;冲洗完成后再通过离心甩干6~8min;(3)将清洗好的硅片在100~120℃的条件下烘烤50~70s,再降温至18~22℃进行冷却,冷却24~36s;(4)冷却后的硅片的N+面进行曝光,曝光部分的硅片用显影液腐蚀,处理得图形化硅片,并去除图形间隙处光阻胶;(5)通过自动检测仪对步骤(4)中图形化硅片进行自动检测,有掉胶的被分拣出,没有掉胶缺陷的进入下一工序;(6)利用硅片N+面的图形间隙作为划片下刀参考线进行划片,形成单个芯片;(7)对芯片台面进行酸腐蚀,去除划片过程中对芯片造成的损伤,然后去除表面的光阻胶,再次镀镍;(8)将芯片的P+、N+面分别通过焊料焊接引线,然后经碱洗、梳条后进行上胶、胶固化、模压、后固化、电镀,最后经测试合格后印字、包装。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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