[发明专利]一种基于GPU嵌入式平台的玉米破损率检测方法在审
| 申请号： | 201710669925.9 | 申请日： | 2017-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN107516311A | 公开（公告）日： | 2017-12-26 |
| 发明（设计）人： | 凌强;张大勇;郑烇;王嵩;徐骏;李峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/194;G06T5/30 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 | 代理人： | 杨学明,顾炜 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于GPU嵌入式平台的玉米破损率检测方法，该方法分为三个部分第一部分为分类模型的生成；第二部分为图像分割，将粘连的玉米籽粒图像分割成提取出单独的籽粒图像并对分割算法进行并行化处理；第三部分为利用分类模型对分割后的图像进行破损检测并计算破损率。本发明采用凸集极限腐蚀和条件膨胀算法有效解决了粘连玉米籽粒图像分割问题，利用深度学习方法规避人工特征提取的问题并保证破损检测准确率，利用GPU嵌入式平台对检测算法并行化处理，使检测算法达到了实时性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 gpu 嵌入式 平台 玉米 破损 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于GPU嵌入式平台的玉米破损率检测方法，其特征在于：该方法分为三个部分：第一部分为分类模型的生成；第二部分为图像分割，将粘连的玉米籽粒图像分割成提取出单独的籽粒图像并对分割算法进行并行化处理；第三部分为利用分类模型对分割后的图像进行破损检测并计算破损率。
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