[发明专利]一种光场距离估计方法有效

专利信息
申请号: 201710597657.4 申请日: 2017-07-20
公开(公告)号: CN107424195B 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 金欣;陈艳琴;戴琼海 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院
主分类号: G06T7/80 分类号: G06T7/80;G06T7/70
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 徐罗艳
地址: 518055 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种光场距离估计方法,包括:S1、标定成像系统并拍摄光场图像;S2、对光场图像进行重聚焦;S3、用距离估计模型获取重聚焦光场图像上待估计物体所在平面到成像系统距离的初始估计值;S4、获取成像系统参数,建立成像模型,模拟得到成像系统在初始估计值下的点扩散函数;S5、将点扩散函数和重聚焦光场图像反卷积得到待估计物体进一步清晰的光场图像;S6、采用距离估计模型来获取步骤S5得到的光场图像上待估计物体所在平面到成像系统的距离的估计值,并根据该估计值更新点扩散函数;S7、判断步骤S6得到的估计值是否满足收敛条件,若是则输出距离估计结果;若否,则以更新的点扩散函数和步骤S5得到的光场图像作为步骤S5中反卷积的对象,返回步骤S5。
搜索关键词: 一种 距离 估计 方法
【主权项】:
一种光场距离估计方法,包括以下步骤S1至S7:S1、对光场成像系统进行标定,并拍摄初始光场图像;S2、对所述初始光场图像进行重聚焦,以使初始光场图像聚焦到进行所述标定时得到的聚焦面上,形成重聚焦光场图像;S3、采用距离估计模型来获取所述重聚焦光场图像上待估计物体所在平面到光场成像系统的距离的初始估计值;S4、获取光场成像系统的参数,建立成像模型,模拟得到光场成像系统在所述初始估计值下的点扩散函数;S5、将所述点扩散函数和所述重聚焦光场图像进行反卷积,得到所述待估计物体进一步清晰的光场图像;S6、采用所述距离估计模型来获取步骤S5得到的光场图像上待估计物体所在平面到光场成像系统的距离的估计值,并根据该估计值更新所述点扩散函数;S7、判断步骤S6得到的估计值是否满足预设的收敛条件,若是,则输出所述待估计物体的距离估计结果;若否,则以步骤S6更新的点扩散函数和步骤S5得到的光场图像作为步骤S5中反卷积的对象,返回步骤S5。
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