[发明专利]基板处理装置以及利用该基板处理装置的薄膜沉积方法有效
申请号: | 201710498435.7 | 申请日: | 2017-06-27 |
公开(公告)号: | CN107541715B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 李大濬;金容珍;白春金 | 申请(专利权)人: | 圆益IPS股份有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/458 |
代理公司: | 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人: | 郑青松 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及基板处理装置以及利用该基板处理装置的薄膜沉积装置。本实施例的基板处理装置包括:腔室,具有密封的工艺区域;基板支撑架,位于所述腔室下部,使晶片安装在上面,并且在内部使防止沉积气体通过气体通道向侧面周围排放;花洒头,位于所述腔室上部,以使源气体以及反应气体供应于所述基板支撑架上;以及清洗环结构体,位于所述基板支撑架的边缘,使从所述基板支撑架内部流入的防止沉积气体供应到所述晶片上面边缘。其中,所述清洗环结构体包括:清洗环,安装在所述基板支撑架周围,以围绕晶片边缘;多个凸起部,从所述清洗环内侧面向所述晶片边缘方向凸出形成;其中,通过所述凸起部在所述清洗环的内侧面与所述晶片边缘之间形成间隙部,通过所述间隙部使所述防止沉积气体供应到所述晶片上面侧。 | ||
搜索关键词: | 处理 装置 以及 利用 薄膜 沉积 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基板处理装置,其特征在于,包括:腔室,具有密封的工艺区域;基板支撑架,位于所述腔室下部,使晶片安装在上面,并且在内部使防止沉积气体通过气体通道向侧面周围排放;花洒头,位于所述腔室上部,以使源气体以及反应气体供应于所述基板支撑架上;以及清洗环结构体,位于所述基板支撑架的边缘,使从所述基板支撑架内部流入的防止沉积气体供应到所述晶片上面边缘;其中,所述清洗环结构体包括:清洗环,安装在所述基板支撑架周围,以围绕晶片边缘;多个凸起部,从所述清洗环内侧面向所述晶片边缘方向凸出形成;其中,通过所述凸起部在所述清洗环的内侧面与所述晶片边缘之间形成间隙部,通过所述间隙部使所述防止沉积气体供应到所述晶片上面侧;其中,在所述清洗环内侧上面与所述凸起部的上面还形成用于对准所述晶片中心的倾斜部。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
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C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的