[发明专利]一种制造具有凸块结构的半导体封装结构的方法在审

专利信息
申请号: 201710495378.7 申请日: 2017-06-26
公开(公告)号: CN107437572A 公开(公告)日: 2017-12-05
发明(设计)人: 郑剑华;苏建国;沈艳梅 申请(专利权)人: 南通华隆微电子股份有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/048
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种制造具有凸块结构的半导体封装结构的方法,包括提供一硅片,其具有正面和和与正面相对的背面;形成通孔、正面接触点、正面电极、背面电极,正面接触点通过通孔与所述正面电极电接触;形成柱状铜凸块,位于所述正面电极和背面电极上,所述柱状铜凸块在所述背面的投影的尺寸小于所述正面电极和背面电极的尺寸,并且所述柱状铜凸块具有相同的高度;在所述柱状铜凸块上贴附粘结膜,盖住全部的柱状铜凸块;在粘结膜和所述背面之间填充封装胶并固化形成透明封装胶,所述透明封装胶包覆所述柱状铜凸块;移除所述粘结膜。
搜索关键词: 一种 制造 具有 结构 半导体 封装 方法
【主权项】:
一种制造具有凸块结构的半导体封装结构的方法,包括:提供一硅片,其具有正面和和与正面相对的背面;形成通孔、正面接触点、正面电极、背面电极,正面接触点通过通孔与所述正面电极电接触;形成柱状铜凸块,位于所述正面电极和背面电极上,所述柱状铜凸块在所述背面的投影的尺寸小于所述正面电极和背面电极的尺寸,并且所述柱状铜凸块具有相同的高度;在所述柱状铜凸块上贴附粘结膜,盖住全部的柱状铜凸块;在粘结膜和所述背面之间填充封装胶并固化形成透明封装胶,所述透明封装胶包覆所述柱状铜凸块;移除所述粘结膜。
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