[发明专利]一种氮化镓基发光二极管外延片及其生长方法有效

专利信息
申请号: 201710393738.2 申请日: 2017-05-27
公开(公告)号: CN107195736B 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: 刘华容;万林;胡加辉 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/12;H01L33/32
代理公司: 11138 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省金华市义*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种氮化镓基发光二极管外延片及其生长方法,属于发光二极管领域。所述发光二极管外延片包括衬底、以及依次层叠在所述衬底上的低温缓冲层、高温缓冲层、无掺杂GaN层、N型层、发光层MQW和P型层,其特征在于,所述高温缓冲层为未掺杂的InGaN层和掺镁的InGaN层交替生长的层叠结构,所述未掺杂的InGaN层的数量为n,所述掺镁的InGaN层的数量为n‑1,n>2且n为整数。通过在高温缓冲层掺杂镁,高温缓冲层主要是三维生长模式,镁有利于三维生长的优势,减少缺陷,提高材料的晶体质量。通过在高温缓冲层加入一点铟杂质,可以有效减少位错数量,减少缺陷,提高材料的晶体质量,从而提高发光二极管的内量子效率和抗静电能力。
搜索关键词: 一种 氮化 发光二极管 外延 及其 生长 方法
【主权项】:
1.一种氮化镓基发光二极管外延片,所述发光二极管外延片包括衬底、以及依次层叠在所述衬底上的低温缓冲层、高温缓冲层、无掺杂GaN层、N型层、MQW发光层和P型层,其特征在于,/n所述高温缓冲层为未掺杂的InGaN层和掺镁的InGaN层交替生长的层叠结构,所述未掺杂的InGaN层的数量为n,所述掺镁的InGaN层的数量为n-1,n>2且n为整数;/n所述高温缓冲层中未掺杂的InGaN层和掺镁的InGaN层均为In
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