[发明专利]立体存储器元件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201710149059.0 申请日: 2017-03-14
公开(公告)号: CN108573973A 公开(公告)日: 2018-09-25
发明(设计)人: 李冠儒;邱家荣 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L27/11551;H01L27/11568;H01L27/11578
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种立体(Three‑Dimensional,3D)存储器元件包括:多层叠层结构(multi‑layer stacks)、接触层、存储层以及通道层。多层叠层结构包括纵向叠层且彼此隔离的多个导电层,并具有一个第一开口和一个第二开口,分别贯穿这些导电层中的至少二层。接触层位于第一开口中,以导通被第一开口贯穿的至少二层导电层。存储层位于第二开口中。通道层覆盖于存储层上,以在存储层和通道层与被第二开口贯穿的至少二个导电层重叠的多个位置(cross points)上形成多个存储单元。
搜索关键词: 开口 存储层 导电层 通道层 多层叠层结构 存储器元件 接触层 二层 贯穿 存储单元 导电层中 导通 叠层 隔离 覆盖 制作
【主权项】:
1.一种立体(Three‑Dimensional,3D)存储器元件,其特征在于,包括:一多层叠层结构(multi‑layer stacks),包括纵向叠层且彼此隔离的多个导电层,并具有一第一开口和一第二开口,分别贯穿这些导电层的至少二者;一第一接触层,位于该第一开口中,以导通被该第一开口贯穿的至少二个导电层;一存储层,位于第二开口中;以及一通道层,覆盖于该存储层上,以在该存储层和该通道层与被该第二开口贯穿的这些导电层重叠的多个位置(cross points)上形成多个存储单元。
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