[发明专利]立体存储器元件及其制作方法在审
申请号: | 201710149059.0 | 申请日: | 2017-03-14 |
公开(公告)号: | CN108573973A | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 李冠儒;邱家荣 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11521 | 分类号: | H01L27/11521;H01L27/11551;H01L27/11568;H01L27/11578 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种立体(Three‑Dimensional,3D)存储器元件包括:多层叠层结构(multi‑layer stacks)、接触层、存储层以及通道层。多层叠层结构包括纵向叠层且彼此隔离的多个导电层,并具有一个第一开口和一个第二开口,分别贯穿这些导电层中的至少二层。接触层位于第一开口中,以导通被第一开口贯穿的至少二层导电层。存储层位于第二开口中。通道层覆盖于存储层上,以在存储层和通道层与被第二开口贯穿的至少二个导电层重叠的多个位置(cross points)上形成多个存储单元。 | ||
搜索关键词: | 开口 存储层 导电层 通道层 多层叠层结构 存储器元件 接触层 二层 贯穿 存储单元 导电层中 导通 叠层 隔离 覆盖 制作 | ||
【主权项】:
1.一种立体(Three‑Dimensional,3D)存储器元件,其特征在于,包括:一多层叠层结构(multi‑layer stacks),包括纵向叠层且彼此隔离的多个导电层,并具有一第一开口和一第二开口,分别贯穿这些导电层的至少二者;一第一接触层,位于该第一开口中,以导通被该第一开口贯穿的至少二个导电层;一存储层,位于第二开口中;以及一通道层,覆盖于该存储层上,以在该存储层和该通道层与被该第二开口贯穿的这些导电层重叠的多个位置(cross points)上形成多个存储单元。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的