[发明专利]电子器件表面缺陷的检测方法及装置有效
| 申请号： | 201710145578.X | 申请日： | 2017-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN106934803B | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | 杨智慧 | 申请（专利权）人： | 珠海格力电器股份有限公司;珠海格力智能装备有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13 |
| 代理公司： | 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 方亮<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 519070*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子器件表面缺陷的检测方法及装置，涉及电子器件外观检测领域，其中的方法包括：获取拍照装置拍摄的电子器件的原始表面图像；对原始表面图像进行预处理，用以得到去除了干扰的预处理图像；在预处理图像中确定检测目标图像并基于检测内容将检测目标图像分割为一个或多个检测区域图像；从检测区域图像中提取特征参数，并根据缺陷判定规则和特征参数确定电子器件的表面是否具有缺陷。本发明的检测方法及装置，能够实现对电子器件表面缺陷的自动检测，并能够同时检测多种缺陷，克服了人工检测外观缺陷的不足，检测效率高、误判率低，可以缩短检测时间，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子器件 表面 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子器件表面缺陷的检测方法，其特征在于，包括：/n获取拍照装置拍摄的电子器件的原始表面图像；/n对所述原始表面图像进行预处理，用以得到去除了干扰的预处理图像；/n在所述预处理图像中确定检测目标图像并基于检测内容将所述检测目标图像分割为一个或多个检测区域图像；/n从所述检测区域图像中提取特征参数，并根据缺陷判定规则和所述特征参数确定所述电子器件的表面是否具有缺陷；/n其中，对端子检测图像进行二值化处理；对经过二值化处理后的所述端子检测图像进行粒子分析，提取与端子表面打焦程度相关的特征值；基于所述特征值以及打焦缺陷判断阈值确定端子的表面是否具有打焦缺陷。/n
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