[发明专利]电子器件表面缺陷的检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种电子器件表面缺陷的检测方法及装置，涉及电子器件外观检测领域，其中的方法包括：获取拍照装置拍摄的电子器件的原始表面图像；对原始表面图像进行预处理，用以得到去除了干扰的预处理图像；在预处理图像中确定检测目标图像并基于检测内容将检测目标图像分割为一个或多个检测区域图像；从检测区域图像中提取特征参数，并根据缺陷判定规则和特征参数确定电子器件的表面是否具有缺陷。本发明的检测方法及装置，能够实现对电子器件表面缺陷的自动检测，并能够同时检测多种缺陷，克服了人工检测外观缺陷的不足，检测效率高、误判率低，可以缩短检测时间，提高生产效率。

技术领域

本发明涉及电子器件外观检测技术领域，尤其涉及一种电子器件表面缺陷的检测方法及装置。

背景技术

随着工业自动化技术的发展，生产过程的自动化程度越来越高。电子器件作为大量使用的元器件，其需求量日益剧增。包括焊片电容在内的多种电子器件的外观缺陷会导致产品性能变差，令产品有质量隐患。其中，以焊片电容为例，焊片电容在实际生产过程中，其表面会出现铝壳夹扁或突起、端子变焦或者歪斜等缺陷。为了提高产品质量，需要对包括焊片电容在内的电子器件的外观进行检测。目前，对于包括焊片电容在内的电子器件进行外观缺陷的检测还是通过人工肉眼检测，对于比较小的缺陷检测有一定的难度，而且人眼长期疲劳工作，检测结果可靠性低、效率低，并容易出现漏检和误检等问题。

发明内容

有鉴于此，本发明要解决的一个技术问题是提供一种电子器件表面缺陷的检测方法及装置，能够实现对电子器件表面缺陷的自动检测。

根据本发明的一个方面，提供一种电子器件表面缺陷的检测方法，包括：获取拍照装置拍摄的电子器件的原始表面图像；对所述原始表面图像进行预处理，用以得到去除了干扰的预处理图像；在所述预处理图像中确定检测目标图像并基于检测内容将所述检测目标图像分割为一个或多个检测区域图像；从所述检测区域图像中提取特征参数，并根据缺陷判定规则和所述特征参数确定所述电子器件的表面是否具有缺陷。

可选地，所述对所述原始表面图像进行预处理包括：采用平滑滤波器对所述原始表面图像进行滤波处理。

可选地，所述采用平滑滤波器对所述原始表面图像进行滤波处理包括：基于高斯函数生成高斯滤波模板，采用所述高斯滤波模板对所述原始表面图像进行卷积运算。

可选地，所述高斯函数为

其中，r,c为图像中当前点到对应点的距离，σ是滤波器尺度，σ的取值范围为1.3-1.5。

可选地，所述电子器件包括：端子和与端子连接的筒状壳体；将所述检测目标图像分割为端子检测图像和壳体检测图像。

可选地，确定端子模板图像，基于图像匹配算法并使用所述端子模板图像在所述预处理图像中进行图像匹配；确定所述预处理图像中与所述端子模板图像相似度最高的子图并获取所述子图所对应的坐标值；其中，所述子图为所述端子检测图像。

可选地，所述图像匹配算法包括：基于灰度的图像匹配算法；其中，所述基于灰度的图像匹配算法包括：平均绝对差MAD算法、误差平方和SSD算法。

可选地，在所述端子检测图像的被测边界处生成第一直线网，其中，所述第一直线网由多条相互平行、并且与所述被测边界垂直的第一直线组成；沿所述第一直线计算所述预处理图像的二阶导数，将得到的零交叉点设定为端子边界点；对所述端子边界点进行直线拟合，生成端子边界线；确定所述端子边界线在基础坐标系中的角度，基于所述角度以及端子角度阈值判定端子的角度是否合格。

可选地，所述第一直线网的宽度为40-55像素，所述第一直线网的高度为30-40像素。