[发明专利]电子器件表面缺陷的检测方法及装置

权利要求书

1.一种电子器件表面缺陷的检测方法，其特征在于，包括：

获取拍照装置拍摄的电子器件的原始表面图像；

对所述原始表面图像进行预处理，用以得到去除了干扰的预处理图像；

在所述预处理图像中确定检测目标图像并基于检测内容将所述检测目标图像分割为一个或多个检测区域图像；

从所述检测区域图像中提取特征参数，并根据缺陷判定规则和所述特征参数确定所述电子器件的表面是否具有缺陷；

其中，对端子检测图像进行二值化处理；对经过二值化处理后的所述端子检测图像进行粒子分析，提取与端子表面打焦程度相关的特征值；基于所述特征值以及打焦缺陷判断阈值确定端子的表面是否具有打焦缺陷。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述原始表面图像进行预处理包括：

采用平滑滤波器对所述原始表面图像进行滤波处理。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述采用平滑滤波器对所述原始表面图像进行滤波处理包括：

基于高斯函数生成高斯滤波模板，采用所述高斯滤波模板对所述原始表面图像进行卷积运算。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述高斯函数为

其中，r,c为图像中当前点到对应点的距离，σ是滤波器尺度，σ的取值范围为1.3-1.5。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子器件包括：端子和与端子连接的筒状壳体；

将所述检测目标图像分割为端子检测图像和壳体检测图像。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于检测内容将所述检测目标图像分割为一个或多个检测区域图像包括：

确定端子模板图像，基于图像匹配算法并使用所述端子模板图像在所述预处理图像中进行图像匹配；

确定所述预处理图像中与所述端子模板图像相似度最高的子图并获取所述子图所对应的坐标值；其中，所述子图为所述端子检测图像。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，

所述图像匹配算法包括：基于灰度的图像匹配算法；

其中，所述基于灰度的图像匹配算法包括：平均绝对差MAD算法、误差平方和SSD算法。

8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述从所述检测区域图像中提取特征参数、根据缺陷判定规则和所述特征参数确定所述电子器件的表面是否具有缺陷包括：

在所述端子检测图像的被测边界处生成第一直线网，其中，所述第一直线网由多条相互平行、并且与所述被测边界垂直的第一直线组成；

沿所述第一直线计算所述预处理图像的二阶导数，将得到的零交叉点设定为端子边界点；

对所述端子边界点进行直线拟合，生成端子边界线；

确定所述端子边界线在基础坐标系中的角度，基于所述角度以及端子角度阈值判定端子的角度是否合格。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，

所述第一直线网的宽度为40-55像素，所述第一直线网的高度为30-40像素。

10.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述特征值包括：面积、长宽比、周长面积比；所述打焦缺陷判断阈值包括：面积阈值、长宽比阈值、周长面积比阈值；

当所述面积大于所述面积阈值、所述长宽比小于所述长宽比阈值并且所述周长面积比小于所述周长面积比阈值时，则确定端子的表面具有打焦缺陷。

11.如权利要求6所述的方法，其特征在于，

对所述端子检测图像进行二值化处理的二值化阈值为110－140。