[发明专利]精密测量加速度的单分子装置有效

专利信息
申请号: 201710119943.X 申请日: 2017-02-22
公开(公告)号: CN106908623B 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 向东;王玲;赵智凯;王璐;梅婷婷;倪立发;张天;张伟强 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: G01P15/00 分类号: G01P15/00
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 李冉
地址: 300350 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种精密测量加速度的单分子装置及方法。本发明是利用机械可控裂结(MCBJ)技术、微纳加工工艺和分子自组装技术实现的。可运用于分子电子学、传感测量、及航空航天领域。利用微纳加工技术制作纳米电极芯片,利用MCBJ装置构筑间隙可控的单分子结,通过测量纳米粒子在纳米间隙中位置的相对移动而导致的隧穿电流的变化,精密测量对应的加速度值。由于隧穿电流值对隧穿距离的变化极其敏感(隧穿距离每变化0.1纳米,对应的隧穿电流可以变化1个数量级),因此可以通过测量隧穿电流的变化,实现对不同加速度的精确探测。扩展了单分子器件的应用范围,为单分子器件的发展和分子电子学的发展提供了有价值的参考。
搜索关键词: 精密 测量 加速度 分子 装置
【主权项】:
一种精密测量加速度的单分子装置,其特征在于,包括机械可控裂结(MCBJ)装置、弹性钢片、绝缘层(聚酰亚胺)、电极(金)层、沉积层(金)、弹性分子(双乙硫醇)和金纳米粒子;所述弹性钢片、绝缘层(聚酰亚胺)、电极(金)层和沉积层(金)制作形成分子结的芯片;弹性分子(双乙硫醇)和金纳米粒子则用于形成弹性分子结和产生隧穿电流;MCBJ装置可连续弯曲芯片以调节芯片纳米间隙大小。
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