[发明专利]衬底处理装置、半导体器件的制造方法有效
申请号: | 201710110698.6 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN107154370B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 八幡橘 | 申请(专利权)人: | 株式会社国际电气 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;孙明轩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种衬底处理装置、半导体器件的制造方法,其能够提高对衬底的处理品质。该衬底处理装置具有:处理衬底的多个处理室;搬送衬底的搬送室;多个移载室,其设在搬送室与处理室之间,并与各处理室分别对应;多个闸阀,其设在搬送室与移载室之间;多个第一气体供给部,其设在搬送室内,并分别对从多个闸阀通过的位置上的衬底供给非活性气体;搬送机械手,其设在搬送室内,并将衬底向移载室内搬送;和控制部,其控制多个第一气体供给部和搬送机械手,使得当第一气体供给部的供给孔与从闸阀通过的衬底之间的距离为第一距离时,以第一流量供给非活性气体,当上述距离为比第一距离长的第二距离时,以比第一流量多的第二流量供给非活性气体。 | ||
搜索关键词: | 衬底 处理 装置 半导体器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种衬底处理装置,其特征在于,具有:处理衬底的多个处理室;搬送所述衬底的搬送室;多个移载室,其设在所述搬送室与所述处理室之间,并与各所述处理室分别对应;多个闸阀,其设在所述搬送室与所述移载室之间;多个第一气体供给部,其设在所述搬送室内,并分别对从所述多个闸阀通过的位置上的衬底供给非活性气体;搬送机械手,其设在所述搬送室内,并将所述衬底向所述移载室内搬送;和控制部,其控制所述多个第一气体供给部和所述搬送机械手,使得当所述第一气体供给部的供给孔与从所述闸阀通过的衬底之间的距离为第一距离时,以第一流量供给非活性气体,当所述距离为比第一距离长的第二距离时,以比第一流量多的第二流量供给所述非活性气体。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社国际电气,未经株式会社国际电气许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710110698.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:等离子体处理方法
- 下一篇:液处理方法、基板处理装置以及存储介质
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造