[发明专利]用于测试半导体组件之系统及方法有效
| 申请号： | 201710062839.1 | 申请日： | 2017-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN108241117B | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 孙俊宏 | 申请（专利权）人： | 台湾福雷电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 中国台湾高雄市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本揭露提供一种用于测试半导体组件之系统，其包含一数据产生装置、一数据测试装置、及一数据处理装置。数据处理装置经组态以传送一第一命令至数据测试装置并在传送第一命令后传送一第一响应至数据产生装置。在接收第一响应之后，数据产生装置传送一第一数据至数据处理装置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 半导体 组件 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试半导体组件的系统，其包含：一数据产生装置；一数据测试装置；及一数据处理装置，所述数据处理装置经组态以传送一第一命令至所述数据测试装置并在传送所述第一命令后传送一第一响应至所述数据产生装置，其中在接收所述第一响应之后，所述数据产生装置传送一第一数据至所述数据处理装置。
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