[发明专利]用于测试半导体组件之系统及方法

权利要求书

1.一种用于测试半导体组件的系统，其包含：

数据产生装置；

数据测试装置；及

具有处理器及第一内存的数据处理装置，所述数据处理装置经配置以传送第一命令至所述数据测试装置并在传送所述第一命令后传送第一响应至所述数据产生装置，

其中在接收所述第一响应之后，所述数据产生装置传送第一数据至所述数据处理装置，且

其中所述数据处理装置的所述处理器经配置以处理所述第一数据并在所述数据测试装置完成所述第一命令之前完成所述第一数据的处理並产生第二命令。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器经配置以处理所述第一数据并产生一第二命令，并将所述第二命令储存至所述第一内存中。

3.根据权利要求2所述的系统，其中所述数据产生装置响应于所述第一响应以产生所述第一数据。

4.根据权利要求2所述的系统，其中所述数据产生装置响应于来自所述数据处理装置的第二响应将所述第一数据传送至所述数据处理装置。

5.根据权利要求4所述的系统，其中所述数据处理装置经配置以响应于第三响应以将储存于所述第一内存中的所述第二命令传送至所述数据测试装置。

6.根据权利要求5所述的系统，其中所述第一数据的传送在所述数据处理装置接收所述第三响应之前完成。

7.根据权利要求2所述的系统，其中

所述数据处理装置进一步包含缓存器；且

所述数据处理装置经配置以响应于第三响应，在处理所述第一数据之同时将所述第二命令经由所述缓存器同步传送至所述数据测试装置。

8.根据权利要求2所述的系统，其中所述数据处理装置进一步包含：

第二内存，其中

所述数据处理装置经配置以在传送所述第一响应至所述数据产生装置之前，将所述第二命令从所述第一内存转存至所述第二内存中。

9.根据权利要求8所述的系统，其中所述数据处理装置经配置以响应于第三响应将储存于所述第二内存中的所述第二命令传送至所述数据测试装置。

10.根据权利要求2所述的系统，其中所述第一数据经过编码，且所述处理器经配置以译码所述第一数据并产生所述第二命令。

11.一种用于测试半导体组件的方法，其包含:

提供数据产生装置；

提供具有处理器及第一内存的数据处理装置；及

提供数据测试装置；

由所述数据处理装置在第一时间传送第一命令至所述数据测试装置，使所述数据测试装置根据所述第一命令进行测试；

在所述第一命令传送至所述数据测试装置后，所述数据处理装置传送第一响应至所述数据产生装置；

所述数据产生装置根据所接收的所述第一响应传送第一数据至所述数据处理装置；

所述数据处理装置的所述处理器经配置以处理所述第一数据并在所述数据测试装置完成所述第一命令之前完成所述第一数据的处理並产生第二命令。

12.根据权利要求11所述的方法，其进一步包含由所述数据处理装置的所述处理器处理所述第一数据并产生一第二命令，并将所述第二命令储存至所述第一内存中。

13.根据权利要求11所述的方法，其中

所述数据产生装置响应于所述第一响应而产生所述第一数据，并响应于来自所述数据处理装置的第二响应将所述第一数据传送至所述数据处理装置。

14.根据权利要求12所述的方法，其中所述数据处理装置响应于第三响应，在处理所述第一数据之同时将所述第二命令同步传送至所述数据测试装置。