[发明专利]一种宽禁带半导体器件及其制作方法在审
申请号: | 201710060381.6 | 申请日: | 2017-01-24 |
公开(公告)号: | CN106783964A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 张振中;孙军;和巍巍;汪之涵;颜剑 | 申请(专利权)人: | 深圳基本半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L21/336;H01L29/872 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提出一种宽禁带半导体器件及其制作方法,所述宽禁带半导体器件包括肖特基部分,用于在正常电压状态下导通电流;PN结部分,用于在发生电流浪涌时与肖特基部分共同导通电流,所述PN结部分包括至少一个增加有效面积的结构,所述增加有效面积的结构用于在PN结表面面积不变的情况下,增大PN结的实际有效面积,从而使器件具有更高的浪涌电流能力。本发明的宽禁带半导体器件的制作方法,通过沟槽刻蚀,和对沟槽的底部、侧壁进行小角度倾斜离子注入掺杂,形成齿状P型掺杂区,在保持肖特基和PN结表面面积不变的情况下,增大了PN结的实际有效面积,使得由此方法制得的宽禁带半导体器件具有更高的浪涌电流能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 宽禁带 半导体器件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种宽禁带半导体器件,包括肖特基部分,用于在正常电压状态下导通电流;PN结部分,用于在发生电流浪涌时与肖特基部分共同导通电流,其特征在于,所述PN结部分包括至少一个增加有效面积的结构,所述增加有效面积的结构用于在PN结表面面积不变的情况下,增大PN结的实际有效面积,从而使器件具有较大的PN结部分。
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