[发明专利]用于探测电磁辐射的构件在审
| 申请号: | 201680033490.2 | 申请日: | 2016-06-07 |
| 公开(公告)号: | CN107980175A | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
| 发明(设计)人: | B.里希特;P.瓦尔滕贝格;K.费泽;M.雅内尔 | 申请(专利权)人: | 弗劳恩霍夫应用研究促进协会 |
| 主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144;H01L27/28;H01L31/101;H01L31/12 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 臧永杰,刘春元 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种构件(10;30),其具有沉积在衬底(11;31)的第一侧上的第一功能层(12;32);而且具有沉积在衬底(11;31)的对置于第一侧的一侧上的第二功能层(13;33)。在第一功能层(12;32)之内构造有至少一个第一元件,借助于第一元件能探测来自第一波长范围的电磁辐射(14;34)。在第二功能层(13;33)之内构造至少一个第二元件,借助于第二元件能探测来自第二波长范围的电磁辐射(15),其中第一功能层(12)和衬底(11)关于来自第二波长范围的电磁辐射(15)是透明的。在构件的一种可替代的实施方式中,借助于至少一个第二元件能发射来自第二波长范围的电磁辐射(35)。所述功能层可以由有机材料组成。利用按照本发明的构件,可以实现多光谱传感器(10)和传感器‑发射器系统(30)。这样的传感器‑发射器系统具有关于探测电磁辐射的功能以及关于发射电磁辐射的功能的高的充填度。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 探测 电磁辐射 构件 | ||
【主权项】:
一种构件(10;30),其包括第一功能层(12;32),在所述第一功能层之内构造有至少一个第一元件,借助于所述第一元件能探测来自第一波长范围的电磁辐射(14;34),其中所述第一功能层(12;32)沉积在衬底(11;31)的一侧上,其特征在于,在所述衬底(11;31)的对置的一侧上沉积有第二功能层(13;33),在所述第二功能层之内构造有至少一个第二元件,借助于所述第二元件,要么a) 能探测来自第二波长范围的电磁辐射(15),其中所述第一功能层(12)和所述衬底(11)关于来自所述第二波长范围的电磁辐射(15)是透明的,要么b) 能发射来自第二波长范围的电磁辐射(35)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





