[发明专利]用于探测电磁辐射的构件在审

专利信息
申请号: 201680033490.2 申请日: 2016-06-07
公开(公告)号: CN107980175A 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: B.里希特;P.瓦尔滕贝格;K.费泽;M.雅内尔 申请(专利权)人: 弗劳恩霍夫应用研究促进协会
主分类号: H01L27/144 分类号: H01L27/144;H01L27/28;H01L31/101;H01L31/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 臧永杰,刘春元
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 探测 电磁辐射 构件
【权利要求书】:

1.一种构件(10;30),其包括第一功能层(12;32),在所述第一功能层之内构造有至少一个第一元件,借助于所述第一元件能探测来自第一波长范围的电磁辐射(14;34),其中所述第一功能层(12;32)沉积在衬底(11;31)的一侧上,其特征在于,在所述衬底(11;31)的对置的一侧上沉积有第二功能层(13;33),在所述第二功能层之内构造有至少一个第二元件,借助于所述第二元件,要么

a) 能探测来自第二波长范围的电磁辐射(15),其中所述第一功能层(12)和所述衬底(11)关于来自所述第二波长范围的电磁辐射(15)是透明的,

要么

b) 能发射来自第二波长范围的电磁辐射(35)。

2.根据权利要求1所述的构件,其特征在于,所述第一波长范围不同于所述第二波长范围。

3.根据权利要求1或2所述的构件,其特征在于,所述衬底被构造为玻璃衬底或塑料衬底。

4.根据权利要求1或2所述的构件,其特征在于,所述衬底(11;31)由半导体材料组成而且包括由有源器件构成的电路结构。

5.根据上述权利要求之一所述的构件,其特征在于,所述衬底(11;31)包括至少一个布线平面。

6.根据上述权利要求之一所述的构件,其特征在于,所述衬底(11;31)具有至少一个贯通接触部。

7.根据上述权利要求之一所述的构件,其特征在于,在所述衬底(11;31)之内构造有至少一个第三元件,借助于所述第三元件能探测来自第三波长范围的电磁辐射(26;46)。

8.根据权利要求7所述的构件,其特征在于,所述第三波长范围不同于所述第一和第二波长范围,并且所述第一功能层(12;32)关于来自所述第三波长范围的电磁辐射是透明的。

9.根据上述权利要求之一所述的构件,其特征在于,在所述第一功能层(12;32)之内、在所述第二功能层(13;33)之内和/或在所述衬底(11;31)之内构造有大量分别附属的第一元件、第二元件或第三元件,所述第一元件、第二元件或第三元件光栅形地以分布到相应的功能层(12;13;32;33)上或到所述衬底(11;31)的表面上的方式来布置。

10.根据上述权利要求之一所述的构件,其特征在于,所述第一功能层(12;32)和/或所述第二功能层(13;33)包括一种有机材料。

11.根据权利要求10所述的构件,其特征在于,所述第一功能层和/或所述第二功能层包括纳米颗粒。

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