[发明专利]具有反射体的处理腔室在审

专利信息
申请号: 201680029627.7 申请日: 2016-05-05
公开(公告)号: CN107660238A 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 刘树坤;苏拉吉特·库马尔;卡尔蒂克·萨哈;穆罕默德·图格鲁利·萨米尔 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: C23C16/48 分类号: C23C16/48;C30B25/08;C30B25/10
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 代理人: 徐金国,赵静
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供一种用于处理半导体基板的反射体。反射体包括环形主体,所述环形主体具有外边缘、内边缘与底侧。底侧包含多个第一表面与多个第二表面。每个第一表面与每个第二表面定位于环绕环形主体的不同角位置处。每个第一表面是曲面,所述曲面具有约1.50英吋至约2.20英吋的曲率半径。
搜索关键词: 具有 反射 处理
【主权项】:
一种用于处理半导体基板的反射体,所述反射体包括:环形主体,所述环形主体具有外边缘、内边缘与底侧,所述底侧包含多个第一表面与多个第二表面,其中每个第一表面与每个第二表面定位于环绕所述环形主体的不同角位置处;及每个第一表面是曲面,所述曲面具有约1.50英吋至约2.20英吋的曲率半径。
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