[发明专利]一种检测类毒素絮状单位的装置及其应用在审
申请号: | 201611267799.6 | 申请日: | 2016-12-31 |
公开(公告)号: | CN106680246A | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 张立志;陆炜;王治伟;隋晓斌;王鑫英;高强;尹卫东 | 申请(专利权)人: | 北京科兴中维生物技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01N33/68 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人: | 陈征 |
地址: | 100085 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种检测类毒素絮状单位的装置,由样品转盘、试剂隔间、反应模块和记录装置组成。所述样品转盘呈圆盘形可以独立放置标准品及待测样品,试剂隔间内放置反应液及特异性抗体,反应模块设置有温控装置,反应模块侧壁有激光光源,与侧壁激光的光源呈90°处设置有散射比浊探测仪。样品转盘与试剂隔间和反应模块实现自动电连接,反应模块与记录装置电连接。本装置可以独立进行反应并记录时间和光吸收情况的数据,且可以拟合标准曲线,实现自动化检测,精确计算类毒素絮状单位结果,减少人员读取结果带来的误差,提高结果精准度,降低检测成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 类毒素 絮状 单位 装置 及其 应用 | ||
【主权项】:
一种检测类毒素絮状单位的装置,其特征在于,由样品转盘(1)、试剂隔间(2)、反应模块(3)和记录装置(4)构成,所述反应模块(3)内设置有温控装置(5)、激光光源(6)和散射比浊探测仪(7);所述样品转盘(1)与试剂隔间(2)和反应模块(3)实现自动电连接,样品转盘(1)上的样品可自动转入反应模块(3);试剂隔间(2)和反应模块(3)实现自动电连接;反应模块(3)和记录装置(4)自动电连接。
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- 刘浩源;郑瑞云;孙立晶;田丙奇;郑玉军 - 唐山哈船科技有限公司;唐山圣因海洋科技有限公司
- 2019-05-21 - 2019-08-02 - G01N21/47
- 本发明公开了一种油井平台附近溢油监测装置及操作方法,所述监测装置包括油井平台和反射站,所述油井平台上设有激光发射装置、激光接收装置和控制器,向沿所述反射站方向的海洋面发射激光,所述激光能使得所述海洋面上存在溢油时出现损耗,并会被所述海洋面反射;所述反射站对经所述海洋面反射后的激光进行反射至所述油井平台上所述激光接收装置;所述控制器根据激光由发射至接收所损耗的能量差,若大于无溢油时的能量差,确认所述海洋面上有溢油。本发明在油井平台上设置激光设备,同时配套设有反射设备,利用激光经过油污和水面所损失不同来确定海洋面上的溢油情况。
- 海洋面溢油监测装置和操作方法-201910425525.2
- 刘浩源;郑瑞云;孙立晶;田丙奇;郑玉军 - 唐山哈船科技有限公司;唐山圣因海洋科技有限公司
- 2019-05-21 - 2019-08-02 - G01N21/47
- 本发明公开了一种海洋面溢油监测装置和操作方法,所述海洋面溢油监测装置包括发射站和接收站,所述发射站和接收站均为可移动式漂浮在海洋面上。本发明采用两个可移动设备上设置发射站和接收站,对海洋面进行激光检测,利用激光在经过油污面反射损耗不同于水面,达到检测海洋面的污染情况;能实现大范围海洋面的检测和监控,覆盖面广,操作简单,以免污染面扩大。
- 有限区域内测量粗糙表面反射率的方法-201710480836.X
- 覃英宏;谭康豪 - 广西大学
- 2017-06-22 - 2019-07-30 - G01N21/47
- 本发明公开了一种有限区域内测量粗糙表面反射率的方法及装置,包括以下步骤:在目标区域表面正上方设置太阳辐射仪,太阳辐射仪上的日照探射器朝下时与目标区域中心表面的垂直距离H至少为0.4m;太阳辐射仪接收入射太阳辐射It和反射太阳辐射Rt,所述太阳辐射仪在接收反射太阳辐射Rt时,太阳辐射仪的日照探射器外周设置有圆环形的遮光罩;在目标区域的表面覆盖一张具有非选择性光谱且已知反射率的参照板,并记录此时入射太阳辐射Ir和反射太阳辐射Rr;计算目标区域反射率ρt。本发明能够在户外对小面积的粗糙表面测量反射率,操作简单,经济合理。
- 用于对纹理化单晶硅晶片上的角锥进行光学测量的方法-201380032520.4
- 如弟格·库比则克 - 欧德富有限公司
- 2013-06-18 - 2019-07-30 - G01N21/47
- 本发明涉及一种用于对表面纹理化的单晶硅晶片(1)上的角锥(2)进行光学测量的方法,其中通过使用至少一个光源(4)和至少一个光接收器(5),在角锥上弯曲的光(7)被接收用于确定角锥的几何特征。在向前方向上散射的光(9)选择性地通过另一光接收器(8)测量并且确定硅晶片的表面通过角锥覆盖的程度。
- 用于图案化结构中的测试结构及利用测试结构的计量技术-201580024258.8
- 尹戈尔·蒂罗韦斯 - 诺威量测设备股份有限公司
- 2015-03-10 - 2019-07-30 - G01N21/47
- 提出了一种配置为控制多次图案化处理(如间隔件自对准多次图案化)的物件,以产生目标图案。该物件包括带有测试结构的测试位置,该测试结构包括至少一对光栅,其中一对光栅的第一和第二光栅具有交替特征和间隔的第一和第二图案的形式,并且分别与目标图案相差第一和第二值,第一和第二值被选择为共同提供总差异,使得来自测试结构的差分光学响应指示走离效应。
- 专利分类