[发明专利]一种光电探测器有效

专利信息
申请号: 201611075272.3 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN106531822B 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: 张有润;钟晓康;刘影;李明晔;刘凯;胡刚毅;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L31/0224 分类号: H01L31/0224;H01L31/0232;H01L31/101;H01L31/11
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙)51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及半导体器件领域,特别是一种光电探测器,能完成可见光到红外光波段的探测。将硅光电二极管与锗光电二极管通过重掺杂N型Si层背靠背相连,利用Si PIN型光电二极管和Ge PIN型光电二极管分别对短波和长波有较高响应的特点,实现可见光到红外光波段的探测;其中,钝化层既有钝化器件的作用,又有减少短波反射的作用;第一金属阳极接触同时作为电极和金属镜,起到加电压和反射长波光子的作用;而且,本发明涉及的光电二极管工作电压较低,可在5V及以下的电压工作,易与前置放大器混合集成。
搜索关键词: 一种 光电 探测器
【主权项】:
一种光电探测器,包括:由重掺杂P型Ge层(6)、重掺杂N型Si层(4)和中间掺入的本征Ge层(5)构成的一个Ge PIN型光电二极管以及由重掺杂N型Si层(4)、重掺杂P型Si层(2)和中间掺入的本征Si层(3)构成的一个Si PIN型光电二极管通过重掺杂N型Si层(4)背靠背相连;所述重掺杂N型Si层(4)、本征Ge层(5)和重掺杂P型Ge层(6)构成一个平面结构(11),所述本征Si层(3)和重掺杂P型Si层(2)构成一个台面结构(10);所述台面结构(10)位于所述平面结构(11)上侧;所述的重掺杂P型Ge层(6)下表面设有第一金属阳极接触(7),在重掺杂N型Si层(4)上表面左右两侧设有金属阴极接触(8),在重掺杂P型Si层(2)上表面左右两侧设有第二金属阳极接触(9);所述的台面结构(10)上表面、侧壁和平面结构(11)上表面左右两侧淀积有一层钝化层(1)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611075272.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top