[发明专利]一种光电探测器有效
申请号: | 201611075272.3 | 申请日: | 2016-11-29 |
公开(公告)号: | CN106531822B | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 张有润;钟晓康;刘影;李明晔;刘凯;胡刚毅;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/0232;H01L31/101;H01L31/11 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙)51232 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及半导体器件领域,特别是一种光电探测器,能完成可见光到红外光波段的探测。将硅光电二极管与锗光电二极管通过重掺杂N型Si层背靠背相连,利用Si PIN型光电二极管和Ge PIN型光电二极管分别对短波和长波有较高响应的特点,实现可见光到红外光波段的探测;其中,钝化层既有钝化器件的作用,又有减少短波反射的作用;第一金属阳极接触同时作为电极和金属镜,起到加电压和反射长波光子的作用;而且,本发明涉及的光电二极管工作电压较低,可在5V及以下的电压工作,易与前置放大器混合集成。 | ||
搜索关键词: | 一种 光电 探测器 | ||
【主权项】:
一种光电探测器,包括:由重掺杂P型Ge层(6)、重掺杂N型Si层(4)和中间掺入的本征Ge层(5)构成的一个Ge PIN型光电二极管以及由重掺杂N型Si层(4)、重掺杂P型Si层(2)和中间掺入的本征Si层(3)构成的一个Si PIN型光电二极管通过重掺杂N型Si层(4)背靠背相连;所述重掺杂N型Si层(4)、本征Ge层(5)和重掺杂P型Ge层(6)构成一个平面结构(11),所述本征Si层(3)和重掺杂P型Si层(2)构成一个台面结构(10);所述台面结构(10)位于所述平面结构(11)上侧;所述的重掺杂P型Ge层(6)下表面设有第一金属阳极接触(7),在重掺杂N型Si层(4)上表面左右两侧设有金属阴极接触(8),在重掺杂P型Si层(2)上表面左右两侧设有第二金属阳极接触(9);所述的台面结构(10)上表面、侧壁和平面结构(11)上表面左右两侧淀积有一层钝化层(1)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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