[发明专利]基于低压器件实现对高压电路的ESD保护的方法和电路有效

专利信息
申请号: 201611046358.3 申请日: 2016-11-22
公开(公告)号: CN106558582B 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: 张硕;王宗民;张铁良;王瑛;周亮;冯文晓 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 范晓毅
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于低压器件实现对高压电路的ESD保护的方法和电路,其中,所述方法包括:当电容C0接收到ESD脉冲时,产生充电电流,电阻R0上产生压降,控制第二PMOS晶体管MP1和第三PMOS晶体管开启;当通过第二PMOS晶体管MP1和第一NMOS晶体管MN0输出的输出电压Vb1为高电平,且,通过第三PMOS晶体管MP2和第一PMOS晶体管MP0输出的偏置电压Vb2为高电平时,开启第三NMOS晶体管MN2和第二NMOS晶体管MN1,泄放电流。通过本发明提高了芯片的ESD防护能力,保证了芯片的成品率和可靠性。
搜索关键词: 基于 低压 器件 实现 高压 电路 esd 保护 方法
【主权项】:
1.一种ESD保护的电路,其特征在于,包括:电容C0、电阻R0、MP0、MP1、MP2、MN0、MN1和MN2;电容C0和电阻R0串联;其中,电容C0,用于在接收到ESD脉冲时,产生充电电流;电阻R0,用于在接收放电电流时产生压降,控制MP1和MP2开启;MP1的漏极与MN0的漏极相连,用于生成输出电压Vb1;其中,输出电压Vb1输出至MN2的栅极;MP2的漏极和MP0的源极相连,用于生成偏置电压Vb2;其中,偏置电压Vb2输出至MN1的栅极;MN1的源极和MN2的漏极相连;其中,MN1,用于在接收的偏置电压Vb2为高电平时开启,泄放电流;MN2,用于在收到的输出电压Vb1为高电平时开启,泄放电流;其中,所述ESD保护的电路,还包括:偏置电路VBIAS;所述偏置电路VBIAS,用于输出偏置电压Vb0;其中,所述偏置电压Vb0分别输出至MN0的栅极和MP0的栅极;其中,电容C0和电阻R0的连接点分别与MP1的栅极和MP2的栅极连接,用于为MP1和MP2提供栅压,以及,为MP2提供栅压偏置。
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