[发明专利]基于低压器件实现对高压电路的ESD保护的方法和电路有效
申请号: | 201611046358.3 | 申请日: | 2016-11-22 |
公开(公告)号: | CN106558582B | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | 张硕;王宗民;张铁良;王瑛;周亮;冯文晓 | 申请(专利权)人: | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 范晓毅 |
地址: | 100076 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于低压器件实现对高压电路的ESD保护的方法和电路,其中,所述方法包括:当电容C0接收到ESD脉冲时,产生充电电流,电阻R0上产生压降,控制第二PMOS晶体管MP1和第三PMOS晶体管开启;当通过第二PMOS晶体管MP1和第一NMOS晶体管MN0输出的输出电压Vb1为高电平,且,通过第三PMOS晶体管MP2和第一PMOS晶体管MP0输出的偏置电压Vb2为高电平时,开启第三NMOS晶体管MN2和第二NMOS晶体管MN1,泄放电流。通过本发明提高了芯片的ESD防护能力,保证了芯片的成品率和可靠性。 | ||
搜索关键词: | 基于 低压 器件 实现 高压 电路 esd 保护 方法 | ||
【主权项】:
1.一种ESD保护的电路,其特征在于,包括:电容C0、电阻R0、MP0、MP1、MP2、MN0、MN1和MN2;电容C0和电阻R0串联;其中,电容C0,用于在接收到ESD脉冲时,产生充电电流;电阻R0,用于在接收放电电流时产生压降,控制MP1和MP2开启;MP1的漏极与MN0的漏极相连,用于生成输出电压Vb1;其中,输出电压Vb1输出至MN2的栅极;MP2的漏极和MP0的源极相连,用于生成偏置电压Vb2;其中,偏置电压Vb2输出至MN1的栅极;MN1的源极和MN2的漏极相连;其中,MN1,用于在接收的偏置电压Vb2为高电平时开启,泄放电流;MN2,用于在收到的输出电压Vb1为高电平时开启,泄放电流;其中,所述ESD保护的电路,还包括:偏置电路VBIAS;所述偏置电路VBIAS,用于输出偏置电压Vb0;其中,所述偏置电压Vb0分别输出至MN0的栅极和MP0的栅极;其中,电容C0和电阻R0的连接点分别与MP1的栅极和MP2的栅极连接,用于为MP1和MP2提供栅压,以及,为MP2提供栅压偏置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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