[发明专利]三维电阻式存储器及其制造方法有效
申请号: | 201610983450.6 | 申请日: | 2016-11-09 |
公开(公告)号: | CN107221545B | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 陈达;何家骅 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/24 | 分类号: | H01L27/24;H01L45/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马雯雯;臧建明 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明涉及一种三维电阻式存储器及其制造方法。三维电阻式存储器包括通道柱、第一栅极柱、第一栅极介电层、第一与第二堆叠结构、可变电阻柱以及电极柱。通道柱配置在基底上。第一栅极柱配置在通道柱的第一侧的基底上。第一栅极介电层配置于通道柱与第一栅极柱之间。第一与第二堆叠结构分别配置于通道柱的彼此相对的第二与第三侧的基底上。第一与第二堆叠结构各自包括交互堆叠的多个导体材料层与多个绝缘材料层。可变电阻柱配置于第一堆叠结构的与通道柱相对的一侧的基底上。电极柱配置于基底上,且位于可变电阻柱的内部。本申请可通过对位于不同层的晶体管单元进行个别控制来抑制潜泄漏电,进而避免未选择的存储器单元意外地重置或设定。 | ||
搜索关键词: | 三维 电阻 存储器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种三维电阻式存储器,其特征在于,所述三维电阻式存储器包括:通道柱,配置在基底上;第一栅极柱,配置在所述通道柱的第一侧的所述基底上;第一栅极介电层,配置于所述通道柱与所述第一栅极柱之间;第一堆叠结构与第二堆叠结构,分别配置于所述通道柱的彼此相对的第二侧与第三侧的所述基底上,所述第一堆叠结构与所述第二堆叠结构各自包括交互堆叠的多个导体材料层与多个绝缘材料层;可变电阻柱,配置于所述第一堆叠结构的与所述通道柱相对的一侧的所述基底上;以及电极柱,配置于所述基底上,且位于所述可变电阻柱的内部。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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