[发明专利]具有金属裂纹停止的集成电路结构及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201610751492.7 申请日: 2016-08-29
公开(公告)号: CN106486478B 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: J·S·梁;荻野·淳;R·A·阔恩;S·E·格勒乔 申请(专利权)人: 格罗方德半导体公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/77
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 英属开曼群*** 国省代码: 开曼群岛;KY
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摘要: 发明的实施例提供具有金属裂纹停止的集成电路结构及其形成方法。依据本发明的实施例的IC结构可包括设于衬底上方的绝缘体;设于该绝缘体上方的阻挡膜;设于该阻挡膜上方的层间介电质;以及设于该衬底上方并与各该绝缘体、该阻挡膜以及该层间介电质横向相邻的金属裂纹停止,其中,该金属裂纹停止包括侧壁,该侧壁中具有第一凹部,以及其中,该阻挡膜与该层间介电质之间的水平界面与该金属裂纹停止的该侧壁相交。
搜索关键词: 具有 金属 裂纹 停止 集成电路 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种集成电路结构,包括:绝缘体,设于衬底上方;阻挡膜,设于该绝缘体上方;层间介电质,设于该阻挡膜上方;以及金属裂纹停止,包括设于该衬底上方并与各该绝缘体、该阻挡膜以及该层间介电质横向相邻的连续金属填充物,其中,该金属裂纹停止还包括侧壁,该侧壁中具有第一凹部,以及其中,该阻挡膜与该层间介电质之间的水平界面与该金属裂纹停止的该侧壁相交。
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