[发明专利]一种半导体装置在审

专利信息
申请号: 201610628271.0 申请日: 2016-07-31
公开(公告)号: CN107665918A 公开(公告)日: 2018-02-06
发明(设计)人: 朱江 申请(专利权)人: 朱江
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 113200 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公开了一种半导体装置,包括不同导电材料交替排列形成的漂移层,在漂移层中设置沟槽,在沟槽内填充导电材料;与现有技术相比,改变漂移层中的电场分布,抑制器件上下峰值电场,增加器件中部电场波动,降低器件的导通电阻。
搜索关键词: 一种 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于:包括:衬底层,为半导体材料;漂移层,位于衬底层之上和沟槽之间,为第一导电半导体材料与第二导电半导体材料交替排列而成;多个沟槽,位于衬底层之上,沟槽通过隔离绝缘材料,在沟槽上下方向上设置多个部分,沟槽上下方向上多个部分内设置导电材料,导电材料包括为金属或掺杂多晶半导体材料,导电材料与沟槽内壁之间设置有绝缘层,沟槽内壁绝缘层设置缺口,沟槽内壁绝缘层缺口位于沟槽的顶部、底部或侧壁,实现导电材料与衬底层、漂移层或表面电极材料接触。
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