[发明专利]抗辐照太阳能电池制备方法有效

专利信息
申请号: 201610550758.1 申请日: 2016-07-14
公开(公告)号: CN106057932B 公开(公告)日: 2017-09-19
发明(设计)人: 窦延军;张林;张春秋 申请(专利权)人: 江苏万邦微电子有限公司
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/18;H01L31/0687;H01L21/265;H01L21/266
代理公司: 徐州市淮海专利事务所32205 代理人: 华德明
地址: 210024 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种抗辐照太阳能电池制备方法,包括六个步骤在单晶硅片表面形成SiO2层;在SiO2层上溅射钨掩蔽膜;在钨掩蔽膜上刻蚀钨掩蔽膜图形;对刻蚀完毕的钨掩蔽膜进行磷离子叠加注入;低温退火;高温扩散。本发明制备工艺简便、可靠性高、不影响太阳能电池充电。
搜索关键词: 辐照 太阳能电池 制备 方法
【主权项】:
抗辐照太阳能电池制备方法,其特征是:包括以下步骤:步骤1:采用电阻率6‑8Ω•cm的P型单晶硅片,在表面热氧化形成一个20‑45nm厚度的SiO2层;步骤2:在SiO2层上溅射一层钨掩蔽膜;步骤3:通过光刻、刻蚀的方式形成钨掩蔽膜图形,使得该图形注入区线宽2‑3μm,掩蔽间隔宽3‑4μm;步骤4:对钨掩蔽膜进行磷离子叠加注入,次数为五次,每次注入的能量和剂量分别为0.4MeV,3×1014/cm2;0.7MeV,3×1013/cm2;1.2MeV,5×1013/cm2;3MeV,8×1013/cm2;6MeV,1×1014/cm2;步骤5:在保护氮气环境下对离子注入完毕的单晶硅片进行低温退火,温度600℃,时间一小时;保护氮气流量为0.7L/min;步骤6:低温退火完毕,继续在氮气保护下,在1000℃的温度下扩磷13min。
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