[发明专利]托盘调平机构、反应腔室及半导体加工设备有效
申请号: | 201610381759.8 | 申请日: | 2016-05-31 |
公开(公告)号: | CN107452645B | 公开(公告)日: | 2019-11-29 |
发明(设计)人: | 李红 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒<国际申请>=<国际公布> |
地址: | 100176 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种托盘调平机构、反应腔室及半导体加工设备,托盘设置在反应腔室内,用于承载被加工工件,在托盘的底部设置有用于驱动托盘旋转的旋转轴,旋转轴的下端自反应腔室的底部延伸至反应腔室之外,托盘调平机构包括传感器和调平组件,其中,传感器设置在旋转轴的下端,用以实时检测旋转轴的倾斜方向和角度。调平组件用于根据由传感器检测到的旋转轴的倾斜方向和角度,将旋转轴调节至竖直状态。本发明提供的托盘调平机构,其可以实时检测托盘是否倾斜,从而不仅可以获知托盘的倾斜是工艺过程中的哪个阶段的原因导致的,而且可以一次性完成调平操作,给设备维护带来方便。 | ||
搜索关键词: | 托盘 机构 反应 半导体 加工 设备 | ||
【主权项】:
1.一种托盘调平机构,所述托盘设置在反应腔室内,用于承载被加工工件,在所述托盘的底部设置有用于驱动所述托盘旋转的旋转轴,所述旋转轴的下端自所述反应腔室的底部延伸至所述反应腔室之外,其特征在于,所述托盘调平机构包括传感器和调平组件,其中,/n所述传感器设置在所述旋转轴的下端,用以实时检测所述旋转轴的倾斜方向和角度;所述传感器包括多个压力传感器,且沿所述旋转轴的周向对称分布;/n所述压力传感器用于通过检测自身受到的所述旋转轴施加的压力大小,来获得所述旋转轴的倾斜方向和角度;各个所述压力传感器在所述旋转轴处于竖直状态时,其压力值为零;/n所述调平组件用于根据由所述传感器检测到的所述旋转轴的倾斜方向和角度,将所述旋转轴调节至竖直状态。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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