[发明专利]基于二硫化钼和磁控溅射氮化铝的氮化镓生长方法有效
申请号: | 201610334076.7 | 申请日: | 2016-05-19 |
公开(公告)号: | CN105810562B | 公开(公告)日: | 2018-05-25 |
发明(设计)人: | 张进成;庞凯;陈智斌;吕佳骐;朱家铎;许晟瑞;林志宇;宁静;张金风;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C23C14/35;C23C14/06;C23C16/34;C23C28/04 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 田文英;王品华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于二硫化钼和磁控溅射氮化铝的氮化镓生长方法,主要用于改善氮化镓材料质量。其生长步骤是:(1)生长二硫化钼过渡层;(2)磁控溅射氮化铝过渡层;(3)热处理;(4)生长氮化铝缓冲层;(5)生长低V‑Ш比氮化镓层;(6)生长高V‑Ш比氮化镓层。本发明生长的氮化镓薄膜的优点在于,结合了二硫化钼和磁控溅射氮化铝,氮化镓材料质量好,适用衬底范围大,有利于制作高性能的氮化镓基器件。 | ||
搜索关键词: | 生长 磁控溅射 二硫化钼 氮化铝 氮化镓材料 氮化镓层 氮化镓 氮化铝过渡层 氮化铝缓冲层 氮化镓基器件 氮化镓薄膜 热处理 过渡层 衬底 制作 | ||
【主权项】:
1.一种基于二硫化钼和磁控溅射氮化铝的氮化镓薄膜生长方法,包括如下步骤:(1)生长二硫化钼过渡层:(1a)将衬底用丙酮和去离子水预处理烘干后,放入石英反应炉中;(1b)用两个钼舟,向石英反应炉中分别放入三氧化钼15g和硫40g后,通入流量为0.1~0.3cm3 /min的小流量氩气,将石英反应炉中的温度加热至900℃;(1c)增大通入石英反应炉中氩气的流量至1cm3 /min,将石英反应炉在900℃下保温8h;(1d)保持通入石英反应炉中的氩气流量1cm3 /min不变,将石英反应炉冷却至室温后,取出覆盖二硫化钼过渡层的衬底;(2)磁控溅射氮化铝过渡层:(2a)将覆盖二硫化钼过渡层的衬底置于磁控溅射系统中,磁控溅射反应室压力为1Pa,通入氮气和氩气5min;(2b)以5N纯度的铝为靶材,采用射频磁控溅射工艺,在覆盖二硫化钼过渡层的衬底上溅射氮化铝薄膜,得到溅射氮化铝过渡层的基板;(3)热处理:(3a)将溅射氮化铝过渡层的基板置于金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室中,向金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室通入氢气与氨气的混合气体5min;(3b)通入氢气与氨气的混合气体5min后,将金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室加热到600℃,对溅射氮化铝过渡层的基板进行20min热处理,得到热处理后的基板;(4)生长氮化铝缓冲层:(4a)保持金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室压力为40Torr,将温度升到1050℃,依次通入氢气与氨气和铝源;(4b)在氢气与氨气和铝源的气氛下,采用金属有机物化学气相淀积MOCVD在热处理后的基板上生长氮化铝缓冲层,得到氮化铝基板;(5)生长低V-Ш比氮化镓层:(5a)将金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室压力降为20Torr,温度降到1000℃,依次通入氢气、氨气和镓源;(5b)在氢气、氨气和镓源的气氛下,采用金属有机物化学气相淀积MOCVD在氮化铝基板上生长氮化镓外延层,得到生长有低V-Ш比氮化镓层的基板;(6)生长高V-Ш比氮化镓层:(6a)保持金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室温度为1000℃,将压力升高到为40Torr,依次通入氢气、氨气和镓源;(6b)在氢气、氨气和镓源的气氛下,采用金属有机物化学气相淀积MOCVD法,在生长有低V-Ш比氮化镓层的基板上生长高V-Ш比氮化镓层;(6c)将金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室温度降至室温后取出样品,得到氮化镓薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610334076.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:形成半导体元件的方法
- 下一篇:一种速调管烧结热子结构
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造